具有可倾斜结构的微机电器件和可倾斜结构的位置检测

    公开(公告)号:CN107555394B

    公开(公告)日:2019-08-27

    申请号:CN201611249770.5

    申请日:2016-12-29

    Abstract: 本申请涉及具有可倾斜结构的微机电器件和可倾斜结构的位置检测。公开了微机电器件(50),其中,平台(52)形成在顶部衬底中并且被配置为通过旋转角度(θ)旋转。平台具有狭缝(70)并且面对腔(53)。集成的多个光电检测器(70)形成在底部衬底中以检测通过狭缝的光,并生成与通过狭缝的光相关的信号。狭缝的面积随着平台的旋转角度而改变并引起衍射,其或多或少根据角度而被标记。相对于狭缝布置在不同位置的两个光电检测器的信号之间的差值产生该角度。

    利用压电致动的振荡结构、系统以及制造方法

    公开(公告)号:CN107664836A

    公开(公告)日:2018-02-06

    申请号:CN201710173576.1

    申请日:2017-03-22

    Abstract: 公开了利用压电致动的振荡结构、系统以及制造方法。该振荡结构(30)包括:第一扭转弹性元件(56)和第二扭转弹性元件(58),该第一扭转弹性元件和该第二扭转弹性元件被限制到固定的支撑体(40)的对应部分并且限定旋转轴(O);移动元件(55,57,60),该移动元件被设置在该第一与第二扭转弹性元件(56,58)之间并连接到该第一和第二扭转弹性元件,由于该第一和第二可变形元件的扭转,该移动元件可围绕该旋转轴(O)旋转;以及第一控制区域(66),该第一控制区域耦合到该移动元件(55,57,60)并且容纳第一压电致动器(70),该第一压电致动器被配置成用于在使用中引起该第一控制区域(66)的局部变形,该局部变形生成该第一和第二扭转弹性元件(56,58)的扭转。

    有减少的应力灵敏度的微电机传感器器件和对应制造工艺

    公开(公告)号:CN106517079B

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201610191890.8

    申请日:2016-03-30

    Inventor: E·杜奇 S·康蒂

    Abstract: 一种MEMS器件具有:支撑基部,具有与外部环境接触的底表面;传感器管芯,为半导体材料并且集成微机械检测结构;传感器框,布置在传感器管芯周围并且机械地耦合到支撑基部的顶表面;以及帽,布置在传感器管芯上方并且机械地耦合到传感器框的顶表面,帽的顶表面与外部环境接触。传感器管芯从传感器框被机械地去耦合。

    具有可倾斜结构的微机电器件和可倾斜结构的位置检测

    公开(公告)号:CN107555394A

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201611249770.5

    申请日:2016-12-29

    Abstract: 本申请涉及具有可倾斜结构的微机电器件和可倾斜结构的位置检测。公开了微机电器件(50),其中,平台(52)形成在顶部衬底中并且被配置为通过旋转角度(θ)旋转。平台具有狭缝(70)并且面对腔(53)。集成的多个光电检测器(70)形成在底部衬底中以检测通过狭缝的光,并生成与通过狭缝的光相关的信号。狭缝的面积随着平台的旋转角度而改变并引起衍射,其或多或少根据角度而被标记。相对于狭缝布置在不同位置的两个光电检测器的信号之间的差值产生该角度。

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