公开(公告)号：CN105190853B

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201480023493.9

申请日：2014-10-23

Applicant: 格罗方德半导体股份有限公司

Inventor： S·K·卡纳卡萨巴帕西 ,  S·A·西格 ,  T·E·斯坦达尔特 ,  Y·尹

IPC: H01L21/336 ,  H01L29/423

CPC classification number: H01L27/0886 ,  H01L21/76224 ,  H01L21/823431 ,  H01L21/823481 ,  H01L29/6681 ,  Y02P80/30

Abstract: 诸如通过在反应离子蚀刻期间交替气体来循环地交替蚀刻剂，交替地并循环地对形成finFET的鳍的半导体材料和介于所述鳍之间的局部隔离材料的交错的结构执行蚀刻。当半导体材料和局部隔离材料的一个在半导体材料和局部隔离材料的另一个之上突起一段预设的距离时，优选将蚀刻剂替换。由于突起的表面比凹进的表面蚀刻得更快，整体蚀刻处理加快，并且以更少的时间完成，使得对其它材料(蚀刻剂对其选择性不理想)的侵蚀减少并且允许改进对沟槽的蚀刻以形成改进的隔离结构。

公开(公告)号：CN103871895A

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201310628242.0

申请日：2013-11-29

Applicant: 国际商业机器公司 ,  格罗方德半导体股份有限公司 ,  瑞萨电子株式会社

Inventor： L·F·艾杰 ,  M·M·弗兰克 ,  B·S·哈伦 ,  A·英拿达 ,  S·K·卡纳卡萨巴帕西 ,  A·科努尔 ,  V·纳拉亚南 ,  V·K·帕鲁楚利 ,  徐顺天

IPC: H01L21/336 ,  H01L21/28

CPC classification number: H01L29/66795 ,  H01L29/41791

Abstract: 一种用于制造场效应晶体管器件的方法，包括：在基底上图案化鳍部，在布置在基底上的一部分鳍部和一部分绝缘层上方图案化栅叠层，在栅叠层、一部分鳍部及一部分绝缘层上方形成保护屏障，保护屏障包封栅叠层，第二绝缘层在部分鳍部和保护屏障上方沉积，执行第一蚀刻过程以便选择性地去除部分第二绝缘层而无需显著去除保护屏障以便限定空腔，所述空腔暴露鳍部的部分源区和漏区，并且导电材料在空腔内沉积。