公开(公告)号：CN116068230A

公开(公告)日：2023-05-05

申请号：CN202211635427.X

申请日：2022-12-19

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 徐丽宾 ,  董洪海 ,  邓灿 ,  余伟 ,  罗海辉 ,  任亚东 ,  孙成 ,  马瑶 ,  李风池

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供导电结构，包括第一连接部、第二连接部和软连接部，其中，第一连接部其中一端与电气连接端子连接，第二连接部其中一端与被测对象直接接触，软连接部两端分别与第一连接部和第二连接部连接，通过外部施加压力调整软连接部压缩行程。本发明通过第一连接部与电气连接端子实现电气连接，通过第二连接部与被测对象直接接触实现电气连接，通过软连接部提供第一连接部和第二连接部的大电流通电，保证第二连接部与IGBT等被测对象自找平良好贴合，同时提供足够的接触压力，保证导电接触界面的有效接触，从而实现与被测对象免螺钉安装的直接导电接触方式，且导电结构拆装方便，且方便安装维护。

公开(公告)号：CN114019341A

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN202111301375.8

申请日：2021-11-04

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 袁涛 ,  余伟 ,  史慧敏 ,  孙波艳 ,  郑宇 ,  熊强 ,  谭旻 ,  凌浪波 ,  刘敏安 ,  任亚东 ,  罗海辉

IPC: G01R31/26 ,  G01R1/36

Abstract: 本发明一个或多个实施例提供一种IGBT动态测试的过电流保护电路及IGBT动态测试系统，过电流保护电路包括：保护开关和控制电路；所述控制电路与所述保护开关的第一端、第二端以及第三端连接，所述保护开关的第二端与电源电路连接，第三端与IGBT动态测试回路连接；在所述IGBT动态测试回路中的被测IGBT失效短路时，所述控制电路检测所述保护开关第二端与第三端之间的第一电压，并在所述第一电压超过预设参考电压时关断所述保护开关，切断所述电源电路的直通放电通道。本发明能够在IGBT动态测试系统出现失效过电流时能有效限制回路电流，保护整个系统不会受到大电流的冲击，电路结构简单，且快速又可靠。