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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108449980B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201680049835.3
申请日：2016-08-19
IPC: G01N23/041 , G01N23/20 , G01N23/20008 , A61B6/00
Abstract: 在使用利用了X线等的波动性进行高灵敏度放射线摄影的光栅的装置中，本发明提供可拍摄对装置相对移动的试件的技术。像素值运算单元(51)使用在与放射线的路径交叉方向上移动的试件(10)的多个强度分布图像，判定试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)。而且，像素值运算单元(51)通过将属于各区域(Ak)的点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加在一起，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)。图像运算单元(52)使用区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。
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公开(公告)号：CN116868048B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202180076558.6
申请日：2021-11-01
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的课题在于提供一种分析灵敏度高且分析速度快的全反射荧光X射线分析装置。本发明的全反射荧光X射线分析装置具有：X射线源，其具有电子束焦点，该电子束焦点的与试样表面平行且与X射线照射方向正交的方向的有效宽度大于所述照射方向的尺寸；分光元件，其所述正交的方向的有效宽度大于电子束焦点，且具有沿所述照射方向弯曲的面；及检测器，其沿所述正交的方向排列多个而配置，测量自照射有利用所述分光元件所集光的所述X射线的所述试样产生的荧光X射线的强度。
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公开(公告)号：CN116868048A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202180076558.6
申请日：2021-11-01
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的课题在于提供一种分析灵敏度高且分析速度快的全反射荧光X射线分析装置。本发明的全反射荧光X射线分析装置具有：X射线源，其具有电子束焦点，该电子束焦点的与试样表面平行且与X射线照射方向正交的方向的有效宽度大于所述照射方向的尺寸；分光元件，其所述正交的方向的有效宽度大于电子束焦点，且具有沿所述照射方向弯曲的面；及检测器，其沿所述正交的方向排列多个而配置，测量自照射有利用所述分光元件所集光的所述X射线的所述试样产生的荧光X射线的强度。
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公开(公告)号：CN108449980A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201680049835.3
申请日：2016-08-19
IPC: G01N23/041 , G01N23/20 , A61B6/00
Abstract: 在使用利用了X线等的波动性进行高灵敏度放射线摄影的光栅的装置中，本发明提供可拍摄对装置相对移动的试件的技术。像素值运算单元(51)使用在与放射线的路径交叉方向上移动的试件(10)的多个强度分布图像，判定试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)。而且，像素值运算单元(51)通过将属于各区域(Ak)的点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加在一起，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)。图像运算单元(52)使用区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。
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公开(公告)号：CN102297874A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201110106069.9
申请日：2011-04-27
IPC: G01N23/223 , G01N21/958
Abstract: 本发明涉及一种检查方法及装置，从导电性的观点出发检查液晶显示装置上附着的异物。该方法检查液晶显示装置用的基板上附着的异物中是否含有金属元素，每隔检查对象的上述基板的规定张数对不存在异物的部位测定1次预先测定的比较用荧光X射线光谱和上述基板的异物所附着的1个或多个部位的荧光X射线光谱，对多个X射线光谱进行数据处理，从而高精度地判定上述异物是否含有金属元素。
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