公开(公告)号：CN102297874A

公开(公告)日：2011-12-28

申请号：CN201110106069.9

申请日：2011-04-27

Applicant: 株式会社理学 ,  凸版印刷株式会社

Inventor： 中野朝雄 ,  齐藤纯一 ,  崔海龙 ,  稻叶克彦 ,  野野口雅弘

IPC: G01N23/223 ,  G01N21/958

Abstract: 本发明涉及一种检查方法及装置，从导电性的观点出发检查液晶显示装置上附着的异物。该方法检查液晶显示装置用的基板上附着的异物中是否含有金属元素，每隔检查对象的上述基板的规定张数对不存在异物的部位测定1次预先测定的比较用荧光X射线光谱和上述基板的异物所附着的1个或多个部位的荧光X射线光谱，对多个X射线光谱进行数据处理，从而高精度地判定上述异物是否含有金属元素。

公开(公告)号：CN103026215A

公开(公告)日：2013-04-03

申请号：CN201180036808.X

申请日：2011-07-28

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 中野朝雄 ,  上地义德

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/301 ,  G01N2223/33

Abstract: 本发明为了提供一种可通过人力保持，可进行测定位置的图像确认的便携式X射线衍射测量装置，使便携式X射线衍射装置构成为具备：从斜向对试样照射平行的X射线的X射线照射单元；对通过该X射线照射单元被照射了X射线的试样衍射的X射线中的平行分量的衍射X射线进行会聚来检测的衍射X射线检测单元；以及对从检测出衍射X射线的所述衍射X射线检测单元输出的信号进行处理的信号处理单元，并提供了对试样照射平行的连续波长的X射线，从被照射了该X射线的试样衍射的衍射X射线提取平行分量，对该提取出的衍射X射线的平行分量进行会聚，用能量分散型的检测元件检测该会聚而得的衍射X射线，对用该检测元件检测而得的信号进行处理的X射线衍射方法。

公开(公告)号：CN103026215B

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201180036808.X

申请日：2011-07-28

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 中野朝雄 ,  上地义德

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/301 ,  G01N2223/33

Abstract: 本发明为了提供一种可通过人力保持，可进行测定位置的图像确认的便携式X射线衍射测量装置，使便携式X射线衍射装置构成为具备：从斜向对试样照射平行的X射线的X射线照射单元；对通过该X射线照射单元被照射了X射线的试样衍射的X射线中的平行分量的衍射X射线进行会聚来检测的衍射X射线检测单元；以及对从检测出衍射X射线的所述衍射X射线检测单元输出的信号进行处理的信号处理单元，并提供了对试样照射平行的连续波长的X射线，从被照射了该X射线的试样衍射的衍射X射线提取平行分量，对该提取出的衍射X射线的平行分量进行会聚，用能量分散型的检测元件检测该会聚而得的衍射X射线，对用该检测元件检测而得的信号进行处理的X射线衍射方法。