公开(公告)号：CN104508474A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201380038972.3

申请日：2013-07-08

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 马场纪子 ,  吉冈信二 ,  安田博幸

IPC: G01N27/62

CPC classification number: G01N30/7233 ,  G01N30/72 ,  G01N30/8634 ,  H01J49/0027 ,  H01J49/025

Abstract: 本发明提供一种防止定量精度的降低的质量分析方法。作为使用了质量分析装置、在该质量分析装置的前级连接了将试样成分的强度和检出时间显示为色谱数据的副检测器的分析系统的质量分析方法，(a)注入试样后，通过具有上述副检测器的分析装置分析试样，将通过了该检测器的试样注入到上述质量分析装置；(b)用上述副检测器和上述质量分析装置的双方取得数据；(c)将重复的峰的有无、以及在上述副检测器和上述质量分析装置之间是否存在相同峰作为基准，判断对通过上述副检测器和上述质量分析装置检测出的检出峰中的哪个检出峰进行分析。

公开(公告)号：CN105849855B

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201480071494.0

申请日：2014-12-05

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 梅田光洋 ,  吉冈信二 ,  吉江正树 ,  照井康

IPC: H01J49/10 ,  G01N27/62

CPC classification number: G01N30/7266 ,  H01J49/06 ,  H01J49/061 ,  H01J49/165 ,  H01J49/24

Abstract: 本发明提供液相色谱质谱分析装置，减少在离子化时未离子化的中性粒子、来自液相色谱仪所使用的溶剂的低分子离子，提高装置的灵敏度。具备离子源(102、104、120、121)、质谱分析部及检测器，还具备平行地配置的三片电极(105、106、107)，第一电极(105)以及第二电极(106)具有用于使离子通过的开口部(122、123)，在第二电极(106)与第三电极(107)之间使离子的轨道偏转，而将在离子源(102、104、120、121)生成的离子朝质谱分析部侧导入。

公开(公告)号：CN103635797A

公开(公告)日：2014-03-12

申请号：CN201280031153.1

申请日：2012-04-09

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 吉冈信二 ,  安田博幸

IPC: G01N27/62 ,  G01N30/72

CPC classification number: H01J49/10 ,  G01N30/7266 ,  H01J49/044 ,  H01J49/049

Abstract: 本发明的目的是提供一种质谱分析装置，其通过使喷雾后的试样溶液高效气化，从而生成微细的带电液滴，提高试样的离子化效率，离子强度高，通过使大液滴减少，从而检测灵敏度高。本发明的液相色谱质谱分析装置的特征在于，具有：将试样溶液按各成分进行分离的液相色谱分离单元、将用液相色谱分离单元分离溶出的试样溶液作为液滴进行喷雾的试样喷雾部、使液滴带电（带电液滴）并生成离子的离子化生成单元、导入离子并进行质量分离的质谱分析部以及除去带电液滴中含有的溶剂的脱溶剂部，脱溶剂部具有：带电液滴流通的脱溶剂流通室、加热脱溶剂流通室的加热单元以及设置在脱溶剂流路室中的螺旋状的液滴导向流路。

公开(公告)号：CN105849855A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201480071494.0

申请日：2014-12-05

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 梅田光洋 ,  吉冈信二 ,  吉江正树 ,  照井康

IPC: H01J49/10 ,  G01N27/62

CPC classification number: G01N30/7266 ,  H01J49/06 ,  H01J49/061 ,  H01J49/165 ,  H01J49/24

Abstract: 本发明提供液相色谱质谱分析装置，减少在离子化时未离子化的中性粒子、来自液相色谱仪所使用的溶剂的低分子离子，提高装置的灵敏度。具备离子源(102、104、120、121)、质谱分析部及检测器，还具备平行地配置的三片电极(105、106、107)，第一电极(105)以及第二电极(106)具有用于使离子通过的开口部(122、123)，在第二电极(106)与第三电极(107)之间使离子的轨道偏转，而将在离子源(102、104、120、121)生成的离子朝质谱分析部侧导入。

公开(公告)号：CN103222031B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201180054884.3

申请日：2011-11-17

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 安田博幸 ,  吉冈信二

IPC: H01J49/42 ,  G01N27/62 ,  H01J49/06 ,  H01J49/40

CPC classification number: H01J49/14 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0045 ,  H01J49/063 ,  H01J49/4255

Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，该装置具备碰撞室(9)，在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子，对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速；质量分析部(11)，根据质荷比对碎片离子进行质量分离；控制部(14)，按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式，基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大，控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。

公开(公告)号：CN103222031A

公开(公告)日：2013-07-24

申请号：CN201180054884.3

申请日：2011-11-17

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 安田博幸 ,  吉冈信二

IPC: H01J49/42 ,  G01N27/62 ,  H01J49/06 ,  H01J49/40

CPC classification number: H01J49/14 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0045 ,  H01J49/063 ,  H01J49/4255

Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，该装置具备碰撞室(9)，在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子，对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速；质量分析部(11)，根据质荷比对碎片离子进行质量分离；控制部(14)，按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式，基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大，控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。