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公开(公告)号：CN108472004A
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201680078044.3
申请日：2016-11-17
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/03
Abstract: 本发明提供一种光子计数CT装置，其中，能够收集更准确的数据。设置参考检测部(350)和用于测量X射线照射部(310)的旋转方向的时间波动的时间测量器(345)，使用时间测量器(345)的输出即时间测量数据，对参考检测部(350)的测量数据的旋转方向的时间波动进行校正，使用校正后的参考检测部(350)的测量数据，进行X射线照射部(310)的X射线管(311)的波动和堆积的校正，从而能够进行高精度的数据校正。
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公开(公告)号：CN106062258A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201480076252.0
申请日：2014-10-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: C30B13/08 , C01G15/00 , C30B11/00 , C30B11/002 , C30B11/007 , C30B13/14 , C30B13/16 , C30B29/12 , C30B29/42 , C30B29/46 , C30B29/48 , C30B35/002 , C30B35/007
Abstract: 作为用于晶体培养的晶体培养用坩埚(10)，使用一种坩埚，其具备：保持原料(20)的保持部(12)；回收使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的初级馏出物(24)的初级馏出物回收部(14)；对使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的主馏出物进行凝缩的主馏出物凝缩部(16)；以及对由主馏出物凝缩部(16)凝缩后的原料熔液(28)所构成的主馏出物(30)进行保持且在使晶体从所保持的主馏出物(30)培养时用于生成晶体的晶体培养部(18)。由此，能够实现半导体晶体的原料的高纯度化，并且能够提高晶体的制造效率。
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公开(公告)号：CN108472004B
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201680078044.3
申请日：2016-11-17
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明提供一种光子计数CT装置，其中，能够收集更准确的数据。设置参考检测部(350)和用于测量X射线照射部(310)的旋转方向的时间波动的时间测量器(345)，使用时间测量器(345)的输出即时间测量数据，对参考检测部(350)的测量数据的旋转方向的时间波动进行校正，使用校正后的参考检测部(350)的测量数据，进行X射线照射部(310)的X射线管(311)的波动和堆积的校正，从而能够进行高精度的数据校正。
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公开(公告)号：CN106062258B
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201480076252.0
申请日：2014-10-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: C30B13/08 , C01G15/00 , C30B11/00 , C30B11/002 , C30B11/007 , C30B13/14 , C30B13/16 , C30B29/12 , C30B29/42 , C30B29/46 , C30B29/48 , C30B35/002 , C30B35/007
Abstract: 作为用于晶体培养的晶体培养用坩埚(10)，使用一种坩埚，其具备：保持原料(20)的保持部(12)；回收使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的初级馏出物(24)的初级馏出物回收部(14)；对使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的主馏出物进行凝缩的主馏出物凝缩部(16)；以及对由主馏出物凝缩部(16)凝缩后的原料熔液(28)所构成的主馏出物(30)进行保持且在使晶体从所保持的主馏出物(30)培养时用于生成晶体的晶体培养部(18)。由此，能够实现半导体晶体的原料的高纯度化，并且能够提高晶体的制造效率。
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公开(公告)号：CN107430201A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201680019533.1
申请日：2016-03-18
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 像素的细化、电路死时间的降低、散射线和电荷共享的处理对于提高光子计数X射线CT(Photon Counting CT)的性能是重要的。另外，因为电路数增加而削减每个电路的消耗功率是重要的。基于这样的制约来提供一种执行散射线处理的电路。在各像素(9)中包含用于判定在其附近的其他像素(9)中是否同时检测出放射线的电路(23)，基于该判定结果来切换进行放射线计数的计数器(24)。根据该结果，主要将非同时事件的计数用于再构成数据，对于同时计数在执行修正后用于再构成数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107430201B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201680019533.1
申请日：2016-03-18
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 像素的细化、电路死时间的降低、散射线和电荷共享的处理对于提高光子计数X射线CT(Photon Counting CT)的性能是重要的。另外，因为电路数增加而削减每个电路的消耗功率是重要的。基于这样的制约来提供一种执行散射线处理的电路。在各像素(9)中包含用于判定在其附近的其他像素(9)中是否同时检测出放射线的电路(23)，基于该判定结果来切换进行放射线计数的计数器(24)。根据该结果，主要将非同时事件的计数用于再构成数据，对于同时计数在执行修正后用于再构成数据。
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公开(公告)号：CN107076862A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201580056160.0
申请日：2015-06-18
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G01T1/2985 , A61B6/032 , A61B6/4208 , G01T1/161 , G01T1/17 , G01T1/2018 , H01L27/14658 , H01L31/115
Abstract: 平板状的像素(20)是构成射线检测器的一单位，分别构成为分割成四个以上的亚像素(21)。该情况下，各像素(20)分割为，即使从本身按照有效面积的升序去除预定个数的亚像素(21)，剩余的亚像素(21)整体的有效面积的重心(51)也位于重心(50)与像素(20)相同且各边的长度为像素(20)的一半的相似形状区域(30)的内部。
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公开(公告)号：CN1965758A
公开(公告)日：2007-05-23
申请号：CN200610146550.X
申请日：2006-11-15
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G01T1/243 , A61B6/037 , G01T1/24 , G01T1/249 , G01T1/2928
Abstract: 本发明提供一种能量分辨率优越的核医学诊断装置及核医学诊断方法。核医学诊断装置，具有通过由导电性粒子及树脂粘合剂构成的导电性粘接剂(21A)粘接半导体元件(S)和金属制的导电部件(22、23)的粘接结构，还具备将放射线入射到上述半导体元件(S)时所产生的电荷从上述导电部件(22、23)经上述导电性粘接剂(21A)通过检测电路(30)作为信号导出的结构，其特征在于，设有：用于使至少流过上述导电性粘接剂(21A)的电流比入射了放射线时所产生的电荷形成的电流大的通电机构(40)；以及保护上述检测电路(30)不受由该通电机构(40)流过的电流的影响的保护电路(31)。
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公开(公告)号：CN112641456A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN202010479436.9
申请日：2020-05-29
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明提供一种物质鉴别装置、PCCT装置以及物质鉴别方法，其减少使用分为多个能级的放射线数据鉴别为3个以上的物质时的运算量。物质鉴别装置鉴别被拍摄体内的物质，其具备：数据存储部，其存储通过将3个以上的物质中的任意一个物质鉴别为其他2个物质而预先生成的修正数据；数据输入部，其输入分为多个能级的上述被拍摄体的放射线数据；以及鉴别处理部，其使用不同能级的放射线数据和上述修正数据，重复进行鉴别为上述3个以上的物质中的2个物质的二物质鉴别，由此在上述被拍摄体内鉴别为上述3个以上的物质。
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公开(公告)号：CN112308788A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202010454757.3
申请日：2020-05-26
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 一种图像处理装置、图像处理方法以及X射线CT装置，即使是使用通用的画质评价指标无法对噪声进行定量化的医用图像，也能高精度地降噪并提高画质。图像处理装置具备：预处理部，其生成输入图像，该输入图像包含1张以上的原图像和与原图像相比降低了噪声的图像；以及降噪处理部，其应用已学习网络，基于上述输入图像输出对上述原图像降低了噪声的图像，上述降噪处理部中使用的上述已学习网络是通过使用多个学习集进行深度学习而构筑的，该多个学习集以包含噪声的医用图像、针对该医用图像进行降噪处理而得到的降噪图像以及在上述降噪处理的过程中得到的中间图像中的1张以上作为输入图像，并且以基于这些输入图像而得到的正确图像作为输出图像。
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