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公开(公告)号：CN107076862B
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201580056160.0
申请日：2015-06-18
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 平板状的像素(20)是构成射线检测器的一单位，分别构成为分割成四个以上的亚像素(21)。该情况下，各像素(20)分割为，即使从本身按照有效面积的升序去除预定个数的亚像素(21)，剩余的亚像素(21)整体的有效面积的重心(51)也位于重心(50)与像素(20)相同且各边的长度为像素(20)的一半的相似形状区域(30)的内部。
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公开(公告)号：CN105025795B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201480010991.X
申请日：2014-03-11
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 昆野康隆
CPC classification number: A61B6/5258 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/5205 , A61B6/586 , G06T5/002 , G06T5/005 , G06T7/0012 , G06T11/005 , G06T2207/10081
Abstract: 在采用来自检测透过了检查对象的放射线的检测器的输出数据来生成图像的图像处理装置或者放射线摄影装置中，在推测检测器的缺陷元件的输出值时，可减少由于推测输出值与本来的输出值之间的偏离引起的伪像。不仅校正缺陷元件的输出，还通过模糊处理来校正在缺陷元件的校正中所采用的周围的正常元件的输出。另外，根据装置条件或摄影条件等条件，调整周围的正常元件的模糊处理的有无或模糊处理的程度。
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公开(公告)号：CN106488744B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201580035286.X
申请日：2015-07-23
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明提供在X射线拍摄装置中在减轻计算负荷的同时实现近似于理想的点应答轨迹插补的数据插补的技术。提供高速实施沿着点应答轨迹的方向的插补的方法。根据测量数据仅针对代表性的插补角度(例如0度、±30度、±60度、90度)预先对正弦图进行插补。在重建时，若决定希望反投影的像素，则针对每个视图还决定点应答轨迹的倾斜度。对应于轨迹的倾斜度，对上述代表正弦图数据进行加权求和，由此能得到对应于任意角度的插补数据。
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公开(公告)号：CN108472004A
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201680078044.3
申请日：2016-11-17
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/03
Abstract: 本发明提供一种光子计数CT装置，其中，能够收集更准确的数据。设置参考检测部(350)和用于测量X射线照射部(310)的旋转方向的时间波动的时间测量器(345)，使用时间测量器(345)的输出即时间测量数据，对参考检测部(350)的测量数据的旋转方向的时间波动进行校正，使用校正后的参考检测部(350)的测量数据，进行X射线照射部(310)的X射线管(311)的波动和堆积的校正，从而能够进行高精度的数据校正。
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公开(公告)号：CN106028939A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201580010467.7
申请日：2015-03-17
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 昆野康隆
CPC classification number: A61B6/4241 , A61B6/032 , A61B6/482 , A61B6/5205 , A61B6/585 , G01T1/2985
Abstract: 在搭载了将入射到X射线检测元件的放射线按每个能量范围来区分从而进行计数的光子计数方式的放射线检测器的X射线摄影装置中，为了对各能量范围中的X射线光子数的计数错误进行校正，得到正确的投影像，X射线摄影装置的数据处理装置具有校正部，该校正部针对各X射线检测元件对所述多个能量范围的各自的数字输出值进行校正，校正部具备：流入量算出部，算出与从其他X射线检测元件流入至1个X射线检测元件的X射线光子相当的数字量；能量转移流入量/流出量算出部，其在1个X射线检测元件中，算出与由能量转移而流入到高能量范围的X射线光子相当的数字量，使用由这些算出部算出的数字量来进行校正。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108601574B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN201780010294.8
申请日：2017-02-03
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 昆野康隆
Abstract: 提供X射线检测器、方法、系统及存储介质和X射线CT装置。具备：检测部，将包含多个检测元件的检测元件组与一个像素对应地排列多个；相加率决定部，决定检测元件的输出信号的相加率；相加部，通过根据相加率将属于检测元件组的检测元件的输出信号相加来计算投影像的每个像素的信号值；和位置信息存储部，存储表示像素与检测元件之间的位置关系的像素位置信息和表示缺陷元件的位置的缺陷元件位置信息，相加率决定部基于像素位置信息以及缺陷元件位置信息，将缺陷元件的输出信号的相加率、和与该缺陷元件处于对称位置的对角检测元件的输出信号的相加率决定为相同且比其他检测元件的相加率低的值，将其他所述检测元件的相加率决定为大致相同的值。
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公开(公告)号：CN106574978B
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201580045287.2
申请日：2015-08-25
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 昆野康隆
IPC: G01T1/17 , A61B6/03 , G01N23/046
CPC classification number: A61B6/4241 , A61B6/032 , A61B6/5205 , A61B6/585 , G01N23/046 , G01T1/171
Abstract: 在具备光子计数方式的X射线检测元件的X射线拍摄装置中，为了高精度地进行专门用于堆积的计数值的修正，X射线拍摄装置具备：X射线检测器，其配置有多个对入射的X射线光子进行检测，并区分为2个以上的能量范围来进行计数的光子计数方式的X射线检测元件；以及修正部，其修正X射线检测元件的计数值，修正部具有错计数量决定部，其基于由2个以上的X射线光子产生堆积的概率，来决定基于堆积的计数值的错计数量。
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公开(公告)号：CN108601574A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201780010294.8
申请日：2017-02-03
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 昆野康隆
Abstract: 为了不增大处理时间、处理电路以及插补用数据等地提高对缺陷元件的输出信号的插补精度并且简单地抑制伪影，本发明具备：检测部，将包含多个检测元件的检测元件组与一个像素对应地排列多个；相加率决定部，决定检测元件的输出信号的相加率；相加部，通过根据相加率将属于检测元件组的检测元件的输出信号相加来计算投影像的每个像素的信号值；和位置信息存储部，存储表示像素与检测元件之间的位置关系的像素位置信息和表示缺陷元件的位置的缺陷元件位置信息，相加率决定部基于像素位置信息以及缺陷元件位置信息，将缺陷元件的输出信号的相加率、和与该缺陷元件处于对称位置的对角检测元件的输出信号的相加率决定为相同且比其他检测元件的相加率低的值，将其他所述检测元件的相加率决定为大致相同的值。
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公开(公告)号：CN105451659B
公开(公告)日：2018-08-07
申请号：CN201480044568.1
申请日：2014-10-22
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: A61B6/5205 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/582 , G01N23/046 , G01N23/087
Abstract: 估算并校正位于X射线源与检测元件之间的物质的微小的设计公差等所引起的X射线的线质的变化。由此防止双能量摄影法中的物质识别能力的下降。X射线摄像装置(100)具备:固定过滤计算部(223),其使用以二种以上不同的管电压来拍摄空气(无被摄体)而得到的测量数据,计算与基准线质的偏移量,作为规定基准物质的透过距离(固有滤过)。固定过滤计算部通过针对上述测量数据应用基于双能量摄影法的基准物质透过距离变换,从而按照每个检测元件来计算基准物质透过距离(固有滤过)。在被摄体摄影时,通过考虑所计算出的每个检测元件的固有滤过来实施双能量摄影法,从而能够得到线质的变化被校正了的图像。
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公开(公告)号：CN104936526B
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：CN201480005942.7
申请日：2014-01-15
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G06T11/005 , A61B6/032 , A61B6/4021 , A61B6/5205 , G06T11/006 , G06T2207/10016 , G06T2207/10081 , G06T2207/10148 , G06T2207/30004 , G06T2211/40
Abstract: 降低由FFS方式生成的一个重构图像中的依存于摄像位置的分辨率的差，并提高测量精度。X射线CT装置，对用FFS方式得到的投影数据的缺损数据通过视图方向插补处理和通道方向插补处理进行插补，其中，视图方向插补处理是使用在投影数据中沿着旋转移动的角度方向排列的实际数据的处理；通道方向插补处理是使用在投影数据中沿着通道方向排列的实际数据的处理。并且，生成根据重构图像内的像素位置，进行了视图方向插补处理的投影数据和进行了通道方向插补处理的投影数据的贡献率不同的重构图像。
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