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公开(公告)号：CN106062258A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201480076252.0
申请日：2014-10-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: C30B13/08 , C01G15/00 , C30B11/00 , C30B11/002 , C30B11/007 , C30B13/14 , C30B13/16 , C30B29/12 , C30B29/42 , C30B29/46 , C30B29/48 , C30B35/002 , C30B35/007
Abstract: 作为用于晶体培养的晶体培养用坩埚(10)，使用一种坩埚，其具备：保持原料(20)的保持部(12)；回收使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的初级馏出物(24)的初级馏出物回收部(14)；对使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的主馏出物进行凝缩的主馏出物凝缩部(16)；以及对由主馏出物凝缩部(16)凝缩后的原料熔液(28)所构成的主馏出物(30)进行保持且在使晶体从所保持的主馏出物(30)培养时用于生成晶体的晶体培养部(18)。由此，能够实现半导体晶体的原料的高纯度化，并且能够提高晶体的制造效率。
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公开(公告)号：CN106062258B
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201480076252.0
申请日：2014-10-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: C30B13/08 , C01G15/00 , C30B11/00 , C30B11/002 , C30B11/007 , C30B13/14 , C30B13/16 , C30B29/12 , C30B29/42 , C30B29/46 , C30B29/48 , C30B35/002 , C30B35/007
Abstract: 作为用于晶体培养的晶体培养用坩埚(10)，使用一种坩埚，其具备：保持原料(20)的保持部(12)；回收使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的初级馏出物(24)的初级馏出物回收部(14)；对使保持于保持部(12)的原料(20)气化了时的主馏出物进行凝缩的主馏出物凝缩部(16)；以及对由主馏出物凝缩部(16)凝缩后的原料熔液(28)所构成的主馏出物(30)进行保持且在使晶体从所保持的主馏出物(30)培养时用于生成晶体的晶体培养部(18)。由此，能够实现半导体晶体的原料的高纯度化，并且能够提高晶体的制造效率。
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公开(公告)号：CN107430201B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201680019533.1
申请日：2016-03-18
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 像素的细化、电路死时间的降低、散射线和电荷共享的处理对于提高光子计数X射线CT(Photon Counting CT)的性能是重要的。另外，因为电路数增加而削减每个电路的消耗功率是重要的。基于这样的制约来提供一种执行散射线处理的电路。在各像素(9)中包含用于判定在其附近的其他像素(9)中是否同时检测出放射线的电路(23)，基于该判定结果来切换进行放射线计数的计数器(24)。根据该结果，主要将非同时事件的计数用于再构成数据，对于同时计数在执行修正后用于再构成数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112137640A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN202010163807.2
申请日：2020-03-10
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明提供一种放射线摄像装置，其使具有检测放射线的光子的半导体层和抑制散射线的入射的准直器的光子计数型放射线检测器变得小型化，而且能够确保耐压。该放射线摄像装置包括放射放射线的放射线源、用于检测放射线的光子的放射线检测器、支撑放射线源和放射线检测器面对设置的支撑部，放射线检测器由多个检测元件模块排列成圆弧状而构成，检测元件模块具有被固定到支撑部的基座、吸收光子而输出电荷的半导体层、向半导体层供给高电压的高压布线、抑制入射到半导体层的散射线的准直器、支撑准直器并将其固定于基座的一组支柱，支柱设置在距半导体层的预定距离内，并具有插入高压布线的凹槽部。
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公开(公告)号：CN107430201A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201680019533.1
申请日：2016-03-18
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 像素的细化、电路死时间的降低、散射线和电荷共享的处理对于提高光子计数X射线CT(Photon Counting CT)的性能是重要的。另外，因为电路数增加而削减每个电路的消耗功率是重要的。基于这样的制约来提供一种执行散射线处理的电路。在各像素(9)中包含用于判定在其附近的其他像素(9)中是否同时检测出放射线的电路(23)，基于该判定结果来切换进行放射线计数的计数器(24)。根据该结果，主要将非同时事件的计数用于再构成数据，对于同时计数在执行修正后用于再构成数据。
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公开(公告)号：CN108474861A
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201680077888.6
申请日：2016-12-21
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明提供一种放射线摄像装置，其具备能够提高在高计数率下的修正精度的检测器，其包括：格栅(9)，以去除来自被照射体(5)的散射线，多个检测器子像素(11)，配置为将格栅(9)之间分割成3个以上；其中，在平面视图中位于格栅(9)的壁面之下的检测器子像素(11A)的面积比其他检测器子像素(11B)的面积大。另外，以格栅(9)间的间距为Pg，以格栅(9)的厚度为Tg，当格栅(9)间的检测器子像素(11)的分割数为N时，不位于格栅(9)的壁面之下的检测器子像素(11)的尺寸为(Pg－Tg－Lsplit×2)/N。
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公开(公告)号：CN101046513A
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200710078804.3
申请日：2007-02-15
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G01T7/005 , A61B6/037 , G01T1/1644 , G01T1/247 , G01T1/249
Abstract: 本发明涉及一种能量校准方法、能量感兴趣区域的设定方法、放射线检测装置及核医学诊断装置。在现有技术中发现了如下问题：由于俘获损失噪声的左右非对称性，因其他噪声(电子噪声等)量的变动即使对于相同入射能量波峰分布的最频值也变动；以及即使其他噪声量一定也由于俘获损失噪声的波峰依赖性而使计测波峰为非线性。本发明的目的在于解决上述问题，提供一种对于电子噪声量的变动等稳定且线性的能量基准。本发明提供一种能量校准方法，用多个具有峰值分布的最频值和平均值不同的值的放射线检测器检测来自校准线源的一定能量的放射线照射，校准利用来自上述校准线源的一定能量的放射线照射而得到的关于各放射线检测器的波峰分布内的平均值使其相同。
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公开(公告)号：CN1940596A
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN200610139302.2
申请日：2006-09-22
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01T1/161 , H01L31/024
CPC classification number: G01T1/2985 , A61B6/037
Abstract: 本发明提供一种通过有效地冷却放射线检测器并提高放射线检测器的防湿及防尘效果，从而能提高时间分辨率及能量分辨率，能提高诊断精度的核医学诊断装置。该核医学诊断装置在收放部件(5)内设置有借助于绝热部件(7)容纳放射线检测器(21)的第一区域A及容纳信号处理装置的第二区域B。另外，在收放部件(5)上，以与第一区域A连通的方式设有具备防尘过滤器(9)的通气口(8)；以与第二区域B连通的方式设有成为冷却空气的入口的通气孔(34)和成为出口的单元风扇(33)。
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