公开(公告)号：CN101384948B

公开(公告)日：2011-05-18

申请号：CN200780005749.3

申请日：2007-02-15

Applicant: 株式会社东进世美肯

Inventor： 金柄郁 ,  李骐范 ,  金容宇 ,  朴美仙 ,  洪振燮 ,  金玮镕

IPC: G02F1/13

Abstract: 一种用于测试平板显示器的系统，该平板显示器具有平面显示板组件，该系统包括：测试平台，其用于布置平面显示板组件；测量装置，其被配置在测试平台上并用于测量来自光源并穿过平面显示板组件的测量区域的透射光的光谱；传送装置，其用于使测量装置在测试平台上以等加速度移动；以及缺陷报告装置，其被电连接到测量装置并用于通过处理从测量装置传输的光谱的电信号来报告缺陷的存在、缺陷类型以及缺陷的严重程度。

公开(公告)号：CN111170293A

公开(公告)日：2020-05-19

申请号：CN201911100421.0

申请日：2019-11-12

Applicant: 株式会社东进世美肯

Inventor： 金容宇 ,  金东珍 ,  具炳秀

IPC: C01B25/234 ,  C01B25/238

Abstract: 本发明公开了一种由废蚀刻剂制备精制磷酸的方法，所述废蚀刻剂在制备半导体或液晶显示器时用于蚀刻工序。所述精制磷酸的制备方法，包括：蒸馏包含金属离子、磷酸及水的蚀刻剂废液，得到经浓缩的磷酸水溶液的步骤；将包含钾离子的固态无机盐与所述经浓缩的磷酸水溶液混合的步骤；在所述磷酸水溶液中混合溶解磷酸但不溶解无机盐的有机不良溶剂，使所述无机盐晶体沉淀，同时使所述金属离子共沉淀的步骤；过滤并去除包含所述金属离子的无机盐晶体的步骤；以及蒸发通过所述过滤获得的滤液中的有机不良溶剂和水，以获得包含钾离子的磷酸的步骤。

公开(公告)号：CN101384948A

公开(公告)日：2009-03-11

申请号：CN200780005749.3

申请日：2007-02-15

Applicant: 株式会社东进世美肯

Inventor： 金柄郁 ,  李骐范 ,  金容宇 ,  朴美仙 ,  洪振燮 ,  金玮镕

IPC: G02F1/13

Abstract: 一种用于测试平板显示器的系统，该平板显示器具有平面显示板组件，该系统包括：测试平台，其用于布置平面显示板组件；测量装置，其被配置在测试平台上并用于测量来自光源并穿过平面显示板组件的测量区域的透射光的光谱；传送装置，其用于使测量装置在测试平台上以等加速度移动；以及缺陷报告装置，其被电连接到测量装置并用于通过处理从测量装置传输的光谱的电信号来报告缺陷的存在、缺陷类型以及缺陷的严重程度。