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公开(公告)号：CN116134287A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202180060152.9
申请日：2021-04-20
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
IPC: G01B7/00
Abstract: 提供一种检查装置、检查系统、检查方法以及部件的修补方法，能够不限制检查对象部件的检查范围而在大范围内稳定且高效地检查检查对象部件的缺陷。检查装置具备：检查装置主体，其被设置成在检查对象部件的表面自由移动；移动机构，其使所述检查装置主体沿着所述检查对象部件的所述表面移动；测定装置，其设置于所述检查装置主体，测定所述检查对象部件的板厚；发送机，其设置于所述检查装置主体，将由所述测定装置测定出的所述信息以无线方式发送到外部；和电池，其设置于所述检查装置主体，向所述移动机构、所述测定装置以及所述发送机供给电力。
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公开(公告)号：CN103562714A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201280025932.0
申请日：2012-05-24
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
CPC classification number: G01N27/9053
Abstract: 本发明目的在于，即使在产生提离量的变动时，也能够稳定地测定钢板的局部磁特性分布，磁特性测定方法包含：预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LS(l)作为健全部提离数据的步骤；预先取得事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LP(l)作为缺陷部提离数据的步骤；测定步骤，测定被检体中的磁敏元件的输出x与获得输出x时的磁敏元件的提离l；以及校正步骤，采用健全部提离数据、缺陷部提离数据和在测定步骤中测定出的提离量对在测定步骤中测定的被检体中的磁敏元件的输出x进行校正运算。
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公开(公告)号：CN119300930A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202380025771.3
申请日：2023-02-17
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
Abstract: 目的在于能够通过防止因铸片厚度的变动而导致提离变小所引起的电磁超声波传感器的破损及烧毁，并且防止提离变大所引起的电磁超声波传感器的灵敏度降低，来连续且自动地进行铸片的凝固位置测量。具备：电磁超声波传感器(7、8)，设置在铸片(1)的外侧；传感器升降单元，调节铸片(1)与电磁超声波传感器(7)的间隔；间隔测定单元，测定铸片(1)与电磁超声波传感器(7)的间隔；测量单元，根据电磁超声波传感器(7)的输出来推断铸片(1)中的凝固位置；以及驱动控制单元，对传感器升降单元和间隔测定单元进行驱动控制，驱动控制单元根据间隔测定单元测定出的间隔而通过传感器升降单元对电磁超声波传感器(7)的位置进行控制。
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4.发明公开公开(公告)号：CN118843912A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202380025798.2
申请日：2023-02-17
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
Abstract: 目的在于提供即使处于反复的热负荷或即使在水冷环境下，也能够将排列的各磁铁固定，并能确保可靠性和传感器寿命的海尔贝克阵列磁铁、电磁超声波传感器、缺陷测量装置、缺陷测量方法、金属材料的制造方法、金属材料的品质管理方法、金属材料的制造设备、凝固位置测量装置、凝固位置测量方法及铸造设备。海尔贝克阵列磁铁具备：磁铁部，其中，多个磁铁被配置成海尔贝克阵列而成；固定夹具，其为一个或多个非磁体，所述固定夹具是至少将所述磁铁部的各磁铁固定；以及磁轭4，所述磁轭为磁体，设置于与利用所述磁铁部形成的磁场所偏置的那侧不同的面侧。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111630367A
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201880086625.0
申请日：2018-12-17
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
IPC: G01N21/21 , G01N21/3563
Abstract: 受光部(3)具备：偏振光分离部(32)，将反射光分离成S偏振光和P偏振光；S偏振光检测部(34)，检测由偏振光分离部(32)分离出的S偏振光，将表示检测到的S偏振光的强度的电信号向输出部(4)输出；及P偏振光检测部(33)，检测由偏振光分离部(32)分离出的P偏振光，将表示检测到的P偏振光的强度的电信号向输出部(4)输出。输出部(4)使用从S偏振光检测部(34)及P偏振光检测部(33)输出的电信号，根据S偏振光与P偏振光的强度比来算出吸光度，使用任意的波数下的吸光度的强度来算出测定对象物P的表面的组成及/或组成比。
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公开(公告)号：CN103765158A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201280041663.7
申请日：2012-09-05
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
CPC classification number: G01B11/0625 , G01N21/3563 , G01N21/8422 , G01N21/8851 , G01N2021/8883
Abstract: 本发明的目的在于非接触性/非破坏性且简便地测定形成于被检体的表面的覆膜的膜厚，得到覆膜的组分的信息，分光装置（10）事先测定已知的被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，计算该特征量与形成于所述已知的被检体的表面的覆膜的膜厚和组分之间的关系，分光装置（10）测定所述被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的被检体的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，根据计算出的已知的被检体的分光数据的特征量与覆膜的膜厚和组分之间的关系，计算形成于所述被检体的表面的覆膜的膜厚和组分。
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公开(公告)号：CN111630367B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN201880086625.0
申请日：2018-12-17
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
IPC: G01N21/21 , G01N21/3563
Abstract: 受光部(3)具备：偏振光分离部(32)，将反射光分离成S偏振光和P偏振光；S偏振光检测部(34)，检测由偏振光分离部(32)分离出的S偏振光，将表示检测到的S偏振光的强度的电信号向输出部(4)输出；及P偏振光检测部(33)，检测由偏振光分离部(32)分离出的P偏振光，将表示检测到的P偏振光的强度的电信号向输出部(4)输出。输出部(4)使用从S偏振光检测部(34)及P偏振光检测部(33)输出的电信号，根据S偏振光与P偏振光的强度比来算出吸光度，使用任意的波数下的吸光度的强度来算出测定对象物P的表面的组成及/或组成比。
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公开(公告)号：CN103765158B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201280041663.7
申请日：2012-09-05
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
IPC: G01B11/06 , G01N21/3563
CPC classification number: G01B11/0625 , G01N21/3563 , G01N21/8422 , G01N21/8851 , G01N2021/8883
Abstract: 本发明的目的在于非接触性/非破坏性且简便地测定形成于被检体的表面的覆膜的膜厚，得到覆膜的组分的信息，分光装置（10）事先测定已知的被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，计算该特征量与形成于所述已知的被检体的表面的覆膜的膜厚和组分之间的关系，分光装置（10）测定所述被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的被检体的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，根据计算出的已知的被检体的分光数据的特征量与覆膜的膜厚和组分之间的关系，计算形成于所述被检体的表面的覆膜的膜厚和组分。
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公开(公告)号：CN103562714B
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201280025932.0
申请日：2012-05-24
Applicant: 杰富意钢铁株式会社
CPC classification number: G01N27/9053
Abstract: 目的在于，即使在产生提离量的变动时，也能够稳定地测定钢板的局部磁特性分布，磁特性测定方法包含：预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LS(l)作为健全部提离数据的步骤；预先取得事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LP(l)作为缺陷部提离数据的步骤；测定步骤，测定被检体中的磁敏元件的输出x与获得输出x时的磁敏元件的提离l；以及校正步骤，采用健全部提离数据、缺陷部提离数据和在测定步骤中测定出的提离量对在测定步骤中测定的被检体中的磁敏元件的输出x进行校正运算。
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