公开(公告)号：CN103562714B

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：CN201280025932.0

申请日：2012-05-24

Applicant: 杰富意钢铁株式会社

Inventor： 西泽佑司 ,  原园学 ,  冈田典久 ,  四辻淳一

IPC: G01N27/72 ,  G01N27/82

CPC classification number: G01N27/9053

Abstract: 目的在于，即使在产生提离量的变动时，也能够稳定地测定钢板的局部磁特性分布，磁特性测定方法包含：预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LS(l)作为健全部提离数据的步骤；预先取得事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LP(l)作为缺陷部提离数据的步骤；测定步骤，测定被检体中的磁敏元件的输出x与获得输出x时的磁敏元件的提离l；以及校正步骤，采用健全部提离数据、缺陷部提离数据和在测定步骤中测定出的提离量对在测定步骤中测定的被检体中的磁敏元件的输出x进行校正运算。

公开(公告)号：CN103562714A

公开(公告)日：2014-02-05

申请号：CN201280025932.0

申请日：2012-05-24

Applicant: 杰富意钢铁株式会社

Inventor： 西泽佑司 ,  原园学 ,  冈田典久 ,  四辻淳一

IPC: G01N27/72 ,  G01N27/82

CPC classification number: G01N27/9053

Abstract: 本发明目的在于，即使在产生提离量的变动时，也能够稳定地测定钢板的局部磁特性分布，磁特性测定方法包含：预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LS(l)作为健全部提离数据的步骤；预先取得事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LP(l)作为缺陷部提离数据的步骤；测定步骤，测定被检体中的磁敏元件的输出x与获得输出x时的磁敏元件的提离l；以及校正步骤，采用健全部提离数据、缺陷部提离数据和在测定步骤中测定出的提离量对在测定步骤中测定的被检体中的磁敏元件的输出x进行校正运算。