在硅基片上形成通孔或凹陷的方法

    公开(公告)号:CN1265438C

    公开(公告)日:2006-07-19

    申请号:CN02146233.X

    申请日:2002-10-15

    Inventor: 真篠直宽

    CPC classification number: H01L21/76898 H01L2224/16

    Abstract: 通过向硅基片照射激光束而在其一面上形成有导电图形的硅基片中形成通孔或凹陷的方法,该方法包括以下步骤,在硅基片的一侧形成用于保护导电图形的防护膜,在包括防护膜顶部硅基片的整个表面上形成附着在防护膜上的金属电镀膜,向由防护膜及金属电镀膜覆盖的硅基片预定位置照射激光束,以便在硅基片中形成通孔或凹陷,在硅基片中形成多个通孔或凹陷时,照射激光束形成前一个通孔或凹陷所产生的热量在后继的通孔或凹陷形成期间基本上不聚集在基片中,剥离金属电镀膜并清除围绕通孔或凹陷开口周边金属电镀膜上的碎片,这些碎片是在通过激光束照射形成通孔或凹陷期间沉积在其上的,并使用不损坏防护膜的清除溶液,清除通孔或凹陷内壁上的沉积物,它们是在通过激光束照射形成通孔或凹陷期间沉积在其上的。

    在硅基片上形成通孔或凹陷的方法

    公开(公告)号:CN1412821A

    公开(公告)日:2003-04-23

    申请号:CN02146233.X

    申请日:2002-10-15

    Inventor: 真篠直宽

    CPC classification number: H01L21/76898 H01L2224/16

    Abstract: 通过向硅基片照射激光束而在其一面上形成有导电图形的硅基片中形成通孔或凹陷的方法,该方法包括以下步骤,在硅基片的一侧形成用于保护导电图形的防护膜,在包括防护膜顶部硅基片的整个表面上形成附着在防护膜上的金属电镀膜,向由防护膜及金属电镀膜覆盖的硅基片预定位置照射激光束,以便在硅基片中形成通孔或凹陷,剥离金属电镀膜并清除围绕通孔或凹陷开口周边金属电镀膜上的碎片,这些碎片是在通过激光束照射形成通孔或凹陷期间沉积在其上的,并使用不损坏防护膜的清除溶液,清除通孔或凹陷内壁上的沉积物,它们是在通过激光束照射形成通孔或凹陷期间沉积在其上的。

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