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公开(公告)号：CN118332984A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410750476.0
申请日：2024-06-12
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G06F30/3308 , G06V10/764 , G06V10/54 , G06V10/56 , G06V10/46 , G06V10/44 , G06V10/26 , G06V20/70 , G06V10/82 , G06N3/0464
Abstract: 本申请涉及数据分析技术领域，公开了一种数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括：对目标电路图中的电路元件赋予唯一标识符，对目标电路图进行电路元件与连接线的分割，得到标注电路图；将标注电路图输入深度卷积神经网络进行元件信息提取，得到电路元件参数信息，将电路元件参数信息输入电路元件识别模型进行元件识别，得到电路元件形状信息，对电路元件形状信息进行特征提取，得到连接特征、电阻特征及电容特征并进行连接路径及元件逻辑关系识别，得到连接路径集合及元件逻辑关系并构建目标电路图的电路模型，并电路模型进行分析，得到电路模拟文件并将电路模拟文件传输至数据展示终端，本申请提高对数字电路分析的准确率。
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公开(公告)号：CN109341872A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811365595.5
申请日：2018-11-16
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明涉及新型激光波长测量装置及其标定方法、测量方法，所述新型激光波长测量装置包括：棱镜、折射镜、光电探测器与处理系统，所述棱镜用于接收激光，且使入射的激光发生折射后射出，所述折射镜用于接收经棱镜折射后的激光，使得激光发生折射，所述光电探测器用于接收经折射镜折射后的激光，并测量其入射位置，所述处理系统用于根据光电探测器接收到的激光的入射位置变化量，计算出被测激光的波长。通过折射镜的设置，降低光束入射至光电探测器的角度，提高了光电探测器测量稳定性，而且根据三角关系，传感器的测量精度得到进一步提高。
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公开(公告)号：CN105333817A
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201510847923.5
申请日：2015-11-27
Applicant: 成都信息工程大学
CPC classification number: G01B9/02062 , G01B11/02
Abstract: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域，特别涉及一种激光波长修正式平面反射镜激光干涉仪及其测量方法，所述激光波长修正式平面反射镜激光干涉仪，包括激光源、固定平面反射镜、光电探测器、测量平面反射镜装置和分光镜，所述测量平面反射镜装置包括测量平面反射镜和精密位移装置，所述精密位移装置为所述测量平面反射镜提供与被测物体位移同向或反向的位移。本申请中，将被测物体实际位移中超出半个激光波长的小数部分△L也测量出来补充到位移检测结果中，进而使得本申请的激光干涉仪所测量得到的位移结果更加精确，同时在测量过程中对激光波长进行修正，减小环境变化对激光干涉测距的影响，进一步提高本发明激光干涉仪的测量精度。
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公开(公告)号：CN118332984B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410750476.0
申请日：2024-06-12
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G06F30/3308 , G06V10/764 , G06V10/54 , G06V10/56 , G06V10/46 , G06V10/44 , G06V10/26 , G06V20/70 , G06V10/82 , G06N3/0464
Abstract: 本申请涉及数据分析技术领域，公开了一种数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括：对目标电路图中的电路元件赋予唯一标识符，对目标电路图进行电路元件与连接线的分割，得到标注电路图；将标注电路图输入深度卷积神经网络进行元件信息提取，得到电路元件参数信息，将电路元件参数信息输入电路元件识别模型进行元件识别，得到电路元件形状信息，对电路元件形状信息进行特征提取，得到连接特征、电阻特征及电容特征并进行连接路径及元件逻辑关系识别，得到连接路径集合及元件逻辑关系并构建目标电路图的电路模型，并电路模型进行分析，得到电路模拟文件并将电路模拟文件传输至数据展示终端，本申请提高对数字电路分析的准确率。
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公开(公告)号：CN109521219A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201811365624.8
申请日：2018-11-16
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01P3/36
Abstract: 本发明涉及多路测量式速度测量传感器，包括激光束一，入射至三角反射镜的所述第一反射面，经第一反射面反射后入射至所述第二反射面；分光镜一，将激光束一分为激光束二与激光束三；所述棱镜一，用于使入射的激光束二发生折射，并透射出去；折射镜一，用于接收从所述棱镜中透射出的激光束二，并使激光束二发生折射；光电探测器一，用于接收经折射镜一折射后的激光束二，并测量其入射位置；光电探测器二，用于接收经折射镜二折射后的激光束三，并测量其入射位置。本发明通过折射镜的设置，降低光束入射至光电探测器的角度，提高了光电探测器测量稳定性，而且根据三角关系，传感器的测量精度得到进一步提高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105371753B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201510846645.1
申请日：2015-11-27
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种波长修正式多光束角阶梯反射镜激光干涉仪及波长修正方法，包括激光源、分光镜、固定阶梯平面角反射镜、测量角反射镜装置、光电探测器组，其中测量角反射镜装置包括测量角反射镜与精密位移装置，激光源包括n,个平行激光束，n≥2，光电探测器组包括n个光电探测器件，固定阶梯平面角反射镜的反射面为n个阶梯平面，相邻两个反射平面间距为(k为自然数)；经过分光镜作用后的一束激光射入其中一个反射平面后反射到一个光电探测器，同时分光镜内透射的另一束激光经过测量角反射镜、分光镜反射后也入射至该光电探测器。该激光干涉仪产生的激光干涉现象不仅和激光波长有关，还和阶梯形反射平面高度差值有关，该光电探测器组能够检测到精度达到λ/2n级别的位移，同时采用波长修正方法获得环境等效波长，显著提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN105371755A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510847922.0
申请日：2015-11-27
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种波长修正式多光束阶梯平面反射镜激光干涉仪及波长修正方法，包括激光源、分光镜、固定反射镜、测量反射镜装置、光电探测器组，其中激光源包括n(n≥2)个平行激光束，光电探测器组包括n个光电探测器件。测量反射镜装置包括测量反射镜与精密位移装置，固定反射镜的反射面为n个阶梯平面，相邻两个反射平面间距为λ/2n+kλ/2(k为自然数)；每束激光经分光镜后变为两束，其中一束经固定反射镜反射后从分光镜透射，到达光电探测器，同时另一束激光依次经测量反射镜、分光镜反射后也入射至该光电探测器。该激光干涉仪产生的激光干涉现象不仅和激光波长有关，还和阶梯型反射平面高度差值有关，该光电探测器组能够检测到精度达到λ/2n级别的位移，同时采用波长修正方法获得环境等效波长，显著提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN105371753A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510846645.1
申请日：2015-11-27
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种波长修正式多光束角阶梯反射镜激光干涉仪及波长修正方法，包括激光源、分光镜、固定阶梯平面角反射镜、测量角反射镜装置、光电探测器组，其中测量角反射镜装置包括测量角反射镜与精密位移装置，激光源包括n,个平行激光束，n≥2，光电探测器组包括n个光电探测器件，固定阶梯平面角反射镜的反射面为n个阶梯平面，相邻两个反射平面间距为(k为自然数)；经过分光镜作用后的一束激光射入其中一个反射平面后反射到一个光电探测器，同时分光镜内透射的另一束激光经过测量角反射镜、分光镜反射后也入射至该光电探测器。该激光干涉仪产生的激光干涉现象不仅和激光波长有关，还和阶梯形反射平面高度差值有关，该光电探测器组能够检测到精度达到λ/2n级别的位移，同时采用波长修正方法获得环境等效波长，显著提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN104930968A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510369129.4
申请日：2015-06-29
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域，特别涉及一种磁性微位移平台式阶梯平面反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法，所述磁性微位移平台式阶梯平面反射镜激光干涉仪，包括有激光源、微动阶梯平面反射镜、干涉测量光电探测器组、移动平面反射镜、分光镜组和磁性微位移平台，所述激光源向所述分光镜组射出z束激光束，还包括有反射测量光电探测器组，所述第二激光束组在由所述移动平面反射镜射向所述分光镜组后还形成有反射激光束组，所述反射激光束组的各激光束分别射向一个所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪，根据反射激光束组的强度确定激光干涉光束的干涉状态，如此实现抗环境干扰的目的。
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公开(公告)号：CN104880147A
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201510374210.1
申请日：2015-06-29
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域，特别涉及一种磁性微位移平台式角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法，所述磁性微位移平台式角反射镜激光干涉仪，包括有激光源、微动角反射镜、干涉测量光电探测器、移动角反射镜、分光镜组和磁性微位移平台，所述微动角反射镜设置在所述磁性微位移平台上，还包括有反射测量光电探测器，激光束经所述移动角反射镜反射至所述分光镜组后还形成有反射激光束，所述反射激光束射向所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪，由于反射测量光电探测器可以测量移动角反射镜反射激光束的强度，根据反射激光束的强度确定激光干涉光束的干涉状态，如此实现抗环境干扰的目的。
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