数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN118332984B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410750476.0

    申请日:2024-06-12

    Abstract: 本申请涉及数据分析技术领域,公开了一种数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括:对目标电路图中的电路元件赋予唯一标识符,对目标电路图进行电路元件与连接线的分割,得到标注电路图;将标注电路图输入深度卷积神经网络进行元件信息提取,得到电路元件参数信息,将电路元件参数信息输入电路元件识别模型进行元件识别,得到电路元件形状信息,对电路元件形状信息进行特征提取,得到连接特征、电阻特征及电容特征并进行连接路径及元件逻辑关系识别,得到连接路径集合及元件逻辑关系并构建目标电路图的电路模型,并电路模型进行分析,得到电路模拟文件并将电路模拟文件传输至数据展示终端,本申请提高对数字电路分析的准确率。

    数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN118332984A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410750476.0

    申请日:2024-06-12

    Abstract: 本申请涉及数据分析技术领域,公开了一种数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括:对目标电路图中的电路元件赋予唯一标识符,对目标电路图进行电路元件与连接线的分割,得到标注电路图;将标注电路图输入深度卷积神经网络进行元件信息提取,得到电路元件参数信息,将电路元件参数信息输入电路元件识别模型进行元件识别,得到电路元件形状信息,对电路元件形状信息进行特征提取,得到连接特征、电阻特征及电容特征并进行连接路径及元件逻辑关系识别,得到连接路径集合及元件逻辑关系并构建目标电路图的电路模型,并电路模型进行分析,得到电路模拟文件并将电路模拟文件传输至数据展示终端,本申请提高对数字电路分析的准确率。

    新型激光波长测量装置及其标定方法、测量方法

    公开(公告)号:CN109341872A

    公开(公告)日:2019-02-15

    申请号:CN201811365595.5

    申请日:2018-11-16

    Abstract: 本发明涉及新型激光波长测量装置及其标定方法、测量方法,所述新型激光波长测量装置包括:棱镜、折射镜、光电探测器与处理系统,所述棱镜用于接收激光,且使入射的激光发生折射后射出,所述折射镜用于接收经棱镜折射后的激光,使得激光发生折射,所述光电探测器用于接收经折射镜折射后的激光,并测量其入射位置,所述处理系统用于根据光电探测器接收到的激光的入射位置变化量,计算出被测激光的波长。通过折射镜的设置,降低光束入射至光电探测器的角度,提高了光电探测器测量稳定性,而且根据三角关系,传感器的测量精度得到进一步提高。

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