测速传感器
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109342758B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN201811372037.1

    申请日:2018-11-16

    Abstract: 本发明涉及一种测速传感器,所述测速传感器包括有激光器、三角反射镜、棱镜、折射镜以及光电探测器:激光器发射激光束,激光束入射至三角反射镜的第一反射面,经第一反射面反射后入射至第二反射面,反光镜接收第二反射面反射的激光并将激光束反射至棱镜,棱镜使所述反光镜反射的激光束发生折射,并透射出去,折射镜,用于接收从所述棱镜中透射出的激光束,并使激光束发生折射;光电探测器,用于接收经折射镜折射后的激光束,并测量其入射位置。本发明通过折射镜的设置,降低光束入射至光电探测器的角度,提高了光电探测器测量稳定性,而且根据三角关系,传感器的测量精度得到进一步提高。

    数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN118332984A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410750476.0

    申请日:2024-06-12

    Abstract: 本申请涉及数据分析技术领域,公开了一种数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括:对目标电路图中的电路元件赋予唯一标识符,对目标电路图进行电路元件与连接线的分割,得到标注电路图;将标注电路图输入深度卷积神经网络进行元件信息提取,得到电路元件参数信息,将电路元件参数信息输入电路元件识别模型进行元件识别,得到电路元件形状信息,对电路元件形状信息进行特征提取,得到连接特征、电阻特征及电容特征并进行连接路径及元件逻辑关系识别,得到连接路径集合及元件逻辑关系并构建目标电路图的电路模型,并电路模型进行分析,得到电路模拟文件并将电路模拟文件传输至数据展示终端,本申请提高对数字电路分析的准确率。

    数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN118332984B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410750476.0

    申请日:2024-06-12

    Abstract: 本申请涉及数据分析技术领域,公开了一种数字电路的分析方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括:对目标电路图中的电路元件赋予唯一标识符,对目标电路图进行电路元件与连接线的分割,得到标注电路图;将标注电路图输入深度卷积神经网络进行元件信息提取,得到电路元件参数信息,将电路元件参数信息输入电路元件识别模型进行元件识别,得到电路元件形状信息,对电路元件形状信息进行特征提取,得到连接特征、电阻特征及电容特征并进行连接路径及元件逻辑关系识别,得到连接路径集合及元件逻辑关系并构建目标电路图的电路模型,并电路模型进行分析,得到电路模拟文件并将电路模拟文件传输至数据展示终端,本申请提高对数字电路分析的准确率。

    新型测速传感器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109342758A

    公开(公告)日:2019-02-15

    申请号:CN201811372037.1

    申请日:2018-11-16

    Abstract: 本发明涉及一种新型测速传感器,所述测速传感器包括有激光器、三角反射镜、棱镜、折射镜以及光电探测器:激光器发射激光束,激光束入射至三角反射镜的第一反射面,经第一反射面反射后入射至第二反射面,反光镜接收第二反射面反射的激光并将激光束反射至棱镜,棱镜使所述反光镜反射的激光束发生折射,并透射出去,折射镜,用于接收从所述棱镜中透射出的激光束,并使激光束发生折射;光电探测器,用于接收经折射镜折射后的激光束,并测量其入射位置。本发明通过折射镜的设置,降低光束入射至光电探测器的角度,提高了光电探测器测量稳定性,而且根据三角关系,传感器的测量精度得到进一步提高。

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