共享的RPS清洁和旁通输送架构
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119816934A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202380063130.7

    申请日:2023-08-02

    Abstract: 示例性基板处理系统可包括盖板。系统可包括具有RPS出口和旁通出口的气体馈送管线。系统可包括被支撑在盖板顶上的远程等离子体单元。远程等离子体单元可包括入口和出口。入口可与RPS出口耦接。系统可包括中心歧管,所述中心歧管具有与出口耦接的RPS入口以及与旁通出口耦接的旁通入口。中心歧管可包括多个出口端口。系统可包括多个侧歧管,所述多个侧歧管与出口端口流体耦接。侧歧管中的每一者可限定气体管腔。系统可包括安置在盖板上的多个输出歧管。每个输出歧管可与侧歧管中的一者的气体管腔流体耦接。

    用于相等分流和共同转向架构的歧管

    公开(公告)号:CN118251755A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202280074448.0

    申请日:2022-10-14

    Abstract: 示例性基板处理系统可包括盖板。所述系统可包括安置在所述盖板上的气体分流器。所述气体分流器可包括顶表面和侧表面。所述气体分流器可界定第一气体入口和第二气体入口,其中每个气体入口延伸通过一个侧表面。所述气体分流器可界定延伸通过所述顶表面的第一气体出口和第二气体出口。所述气体分流器可界定第一气体管腔和第二气体管腔,所述气体管腔在每个气体入口与对应的气体出口之间延伸并流体耦接每个气体入口与对应的气体出口。所述气体分流器可界定混合通道,所述混合通道包括延伸通过侧表面的混合出口和延伸通过顶表面的混合入口。所述系统可包括安置在所述盖板上的输出歧管。所述系统可包括输出焊接件,所述输出焊接件将每个混合出口与所述输出歧管中的一个相应输出歧管流体耦接。

    用于衬底处理腔室的底座
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117702090A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311711345.3

    申请日:2020-01-15

    Abstract: 本公开内容的各方面整体上涉及底座、其部件以及将其用于衬底处理腔室的方法。在一个实现方式中,一种用于在衬底处理腔室中进行设置的底座包括主体。所述主体包括支撑表面。所述主体还包括从所述支撑表面向上突出的台阶状表面。所述台阶状表面围绕所述支撑表面设置以包围所述支撑表面。所述台阶状表面限定边缘环,使得所述边缘环与所述底座成一体以形成所述主体,所述主体是整体的。所述底座还包括:电极,所述电极设置在所述主体中;以及一个或多个加热器,所述一个或多个加热器设置在所述主体中。

    具有改进的吸紧和电弧放电性能的静电吸盘设计

    公开(公告)号:CN116525400A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310691393.4

    申请日:2019-12-02

    Abstract: 本公开的方面涉及用于处理腔室的衬底支撑件的一个或多个实现方式。在一个实现方式中,一种衬底支撑件包括:主体,所述主体具有中心;以及支撑表面,所述支撑表面在所述主体上,所述支撑表面被配置为至少部分地支撑衬底。所述衬底支撑件包括:第一成角度壁,所述第一成角度壁从所述支撑表面向上且径向向外延伸;以及第一上表面,所述第一上表面设置在所述支撑表面上方。所述衬底支撑件还包括第二成角度壁,所述第二成角度壁从所述第一上表面向上且径向向外延伸,所述第一上表面在所述第一成角度壁与所述第二成角度壁之间延伸。所述衬底支撑件还包括第二上表面,所述第二上表面从所述第二成角度壁延伸。所述第二上表面设置在所述第一上表面上方。

    具有减少的等离子体电弧的处理腔室

    公开(公告)号:CN114175207A

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202080049741.2

    申请日:2020-04-23

    Abstract: 处理系统包括腔室主体、基板支撑件和盖组件。所述基板支撑件位于所述腔室主体中并且包括第一电极。所述盖组件定位在腔室主体上方并限定处理容积。所述盖组件包括面板、定位于所述面板和所述腔室主体之间的第二电极、以及定位于所述第二电极和所述处理容积之间的绝缘构件。电源系统耦接所述第一电极和所述面板,并且设置为在所述处理容积中生成等离子体。

Patent Agency Ranking