一种半导体发光器件的脉冲老化方法及装置

    公开(公告)号:CN119471289A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411952282.5

    申请日:2024-12-27

    Abstract: 本申请公开了一种半导体发光器件的脉冲老化方法及装置。本申请应用于脉冲老化系统的上位机,通过上位机向各频率电路发送第一脉冲调节参数,以使得对应频率电路生成第一频率的第一脉冲信号;向各脉冲电路发送第二脉冲调节参数,以使得对应脉冲电路调节第一脉冲信号的脉宽,生成第二脉冲信号;其中,第二脉冲信号用于控制所述第一开关器件开关以生成第三脉冲信号,并通过第三脉冲信号搭建对应待测器件的老化环境;向电流读取电路发送若干电平信号,通过若干电平信号切换待测器件与电流读取电路中第一脉冲电流采集表连接关系,以获取各待测器件在所述老化环境的电压值。通过本申请,可以提高半导体发光器件老化试验方法的泛用性,降低老化试验成本。

    重复雪崩耐量测试系统
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112763880B

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202011541449.0

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 本申请涉及一种重复雪崩耐量测试系统,在对待测器件进行重复雪崩耐量测试时,能够获取重复雪崩耐量测试的相关设定参数以及测试环境参数进行分析,得到在当前设定参数下待测器件的结温参数。之后将结温参数与预设结温阈值进行比较分析,根据比较分析结果判断设定参数是否合理,也即根据比较分析结果输出对应的设定参数合理的信息或调整设定参数的提示信息,最终在接收到开始测试信息时控制脉冲发生装置产生连续脉冲,实现重复雪崩耐量测试。通过上述方案,可以在重复雪崩耐量测试操作中指导用户进行雪崩耐量参数的设置,从而保证用户选取的设置参数满足待测器件的重复雪崩耐量测试需求,进而保证重复雪崩耐量测试结果的准确性。

    重复雪崩耐量测试系统
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112763880A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN202011541449.0

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 本申请涉及一种重复雪崩耐量测试系统,在对待测器件进行重复雪崩耐量测试时,能够获取重复雪崩耐量测试的相关设定参数以及测试环境参数进行分析,得到在当前设定参数下待测器件的结温参数。之后将结温参数与预设结温阈值进行比较分析,根据比较分析结果判断设定参数是否合理,也即根据比较分析结果输出对应的设定参数合理的信息或调整设定参数的提示信息,最终在接收到开始测试信息时控制脉冲发生装置产生连续脉冲,实现重复雪崩耐量测试。通过上述方案,可以在重复雪崩耐量测试操作中指导用户进行雪崩耐量参数的设置,从而保证用户选取的设置参数满足待测器件的重复雪崩耐量测试需求,进而保证重复雪崩耐量测试结果的准确性。

    一种低频噪声分析系统及方法

    公开(公告)号:CN111721401B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202010556336.1

    申请日:2020-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种低频噪声分析系统及方法,所述系统包括:待测器件模块,用于在给器件提供外部的偏置电压使其工作与设定状态后,将待测器件需要关注的噪声信号引入;低噪声放大器模块,用于将所述待测器件模块输出的小信号噪声放大;可调增益放大模块,用于依据待测器件输出的信号幅度大小选择信号增益将放大后的噪声信号进行再次放大输出模拟噪声信号;低频采样模块,用于对所述可调增益放大模块输出的模拟噪声信号进行采样,将模拟噪声信号转化为数字噪声信号;噪声处理模块,用于将所述低频采样模块输出的数字噪声信号进行噪声建模和神经网络分析。

    一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法

    公开(公告)号:CN113189412A

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN202110494459.1

    申请日:2021-05-07

    Abstract: 本发明公开了一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法,所述测试装置包括:待测器件模块,用于为待测器件提供外部的偏置电压,引入待测器件需要关注的噪声信号并输出;第一路噪声测试通路,用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号;第二路噪声测试通路,用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号;频谱分析模块,用于根据采样后的两路数据,对每个通路分别计算各通道的噪声谱情况,然后再进行两个通路之间的相关性分析或进行噪声消除。

    一种低频噪声测试装置及方法

    公开(公告)号:CN111650449A

    公开(公告)日:2020-09-11

    申请号:CN202010524930.2

    申请日:2020-06-10

    Abstract: 本发明公开了一种低频噪声测试装置及方法,所述装置包括:待测器件模块,用于在给待测器件提供外部的偏置电压使其工作与设定状态后,将待测器件需关注的噪声信号引入;第一器件噪声测量通路,用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号;第二器件噪声测量通路,用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号;电源噪声提取通路,用于将供电电源的噪声提取出来并数字化以得到供电电源的数字噪声信号;频谱重建模块,用于根据三路获得的采样数据,计算输入信号的频率谱密度,以得到被测器件的低频噪声中关注的频率谱。

    一种低频噪声测试装置及方法

    公开(公告)号:CN111650449B

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202010524930.2

    申请日:2020-06-10

    Abstract: 本发明公开了一种低频噪声测试装置及方法,所述装置包括:待测器件模块,用于在给待测器件提供外部的偏置电压使其工作与设定状态后,将待测器件需关注的噪声信号引入;第一器件噪声测量通路,用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号;第二器件噪声测量通路,用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号;电源噪声提取通路,用于将供电电源的噪声提取出来并数字化以得到供电电源的数字噪声信号;频谱重建模块,用于根据三路获得的采样数据,计算输入信号的频率谱密度,以得到被测器件的低频噪声中关注的频率谱。

    一种低频噪声分析系统及方法

    公开(公告)号:CN111721401A

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN202010556336.1

    申请日:2020-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种低频噪声分析系统及方法,所述系统包括:待测器件模块,用于在给器件提供外部的偏置电压使其工作与设定状态后,将待测器件需要关注的噪声信号引入;低噪声放大器模块,用于将所述待测器件模块输出的小信号噪声放大;可调增益放大模块,用于依据待测器件输出的信号幅度大小选择信号增益将放大后的噪声信号进行再次放大输出模拟噪声信号;低频采样模块,用于对所述可调增益放大模块输出的模拟噪声信号进行采样,将模拟噪声信号转化为数字噪声信号;噪声处理模块,用于将所述低频采样模块输出的数字噪声信号进行噪声建模和神经网络分析。

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