重复雪崩耐量测试系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112763880A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN202011541449.0

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 本申请涉及一种重复雪崩耐量测试系统,在对待测器件进行重复雪崩耐量测试时,能够获取重复雪崩耐量测试的相关设定参数以及测试环境参数进行分析,得到在当前设定参数下待测器件的结温参数。之后将结温参数与预设结温阈值进行比较分析,根据比较分析结果判断设定参数是否合理,也即根据比较分析结果输出对应的设定参数合理的信息或调整设定参数的提示信息,最终在接收到开始测试信息时控制脉冲发生装置产生连续脉冲,实现重复雪崩耐量测试。通过上述方案,可以在重复雪崩耐量测试操作中指导用户进行雪崩耐量参数的设置,从而保证用户选取的设置参数满足待测器件的重复雪崩耐量测试需求,进而保证重复雪崩耐量测试结果的准确性。

    一种半导体发光器件的脉冲老化方法及装置

    公开(公告)号:CN119471289A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411952282.5

    申请日:2024-12-27

    Abstract: 本申请公开了一种半导体发光器件的脉冲老化方法及装置。本申请应用于脉冲老化系统的上位机,通过上位机向各频率电路发送第一脉冲调节参数,以使得对应频率电路生成第一频率的第一脉冲信号;向各脉冲电路发送第二脉冲调节参数,以使得对应脉冲电路调节第一脉冲信号的脉宽,生成第二脉冲信号;其中,第二脉冲信号用于控制所述第一开关器件开关以生成第三脉冲信号,并通过第三脉冲信号搭建对应待测器件的老化环境;向电流读取电路发送若干电平信号,通过若干电平信号切换待测器件与电流读取电路中第一脉冲电流采集表连接关系,以获取各待测器件在所述老化环境的电压值。通过本申请,可以提高半导体发光器件老化试验方法的泛用性,降低老化试验成本。

    重复雪崩耐量测试系统
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112763880B

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202011541449.0

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 本申请涉及一种重复雪崩耐量测试系统,在对待测器件进行重复雪崩耐量测试时,能够获取重复雪崩耐量测试的相关设定参数以及测试环境参数进行分析,得到在当前设定参数下待测器件的结温参数。之后将结温参数与预设结温阈值进行比较分析,根据比较分析结果判断设定参数是否合理,也即根据比较分析结果输出对应的设定参数合理的信息或调整设定参数的提示信息,最终在接收到开始测试信息时控制脉冲发生装置产生连续脉冲,实现重复雪崩耐量测试。通过上述方案,可以在重复雪崩耐量测试操作中指导用户进行雪崩耐量参数的设置,从而保证用户选取的设置参数满足待测器件的重复雪崩耐量测试需求,进而保证重复雪崩耐量测试结果的准确性。

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