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公开(公告)号:CN112729152A
公开(公告)日:2021-04-30
申请号:CN202011422371.0
申请日:2020-12-08
Applicant: 广东工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于双曲线阈值去噪的峰值提取方法,包括以下步骤:S1、对信号进行预处理,得到频谱序列Y,并以频谱序列Y为纵坐标,频谱序列Y的频率取值B为横坐标绘制出信号有效波段的频谱图;S2、对频谱序列Y进行双曲线阈值去噪处理,得到去噪后的频谱图;S3、对频谱图的有效峰值进行提取。本发明在进行双曲线阈值去噪的基础上通过采用波峰宽度阈值和高度均值及其条件权值来进行峰值提取,使自适应能力、精确度和分辨率都得到提高。只要求得有效峰值频率,就能计算出绝对距离,通过双曲线阈值去噪和峰值提取的方法可以将肉眼分辨不出来的有效峰值提取出来,从而扩大分光干涉仪的测距范围。
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公开(公告)号:CN110702029A
公开(公告)日:2020-01-17
申请号:CN201910926011.5
申请日:2019-09-27
Applicant: 广东工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于QT图形界面的三维形貌测量机控制方法,包括如下步骤:设定轴序数;设置电机旋转的速度和加速度;设置电机旋转方向和角度,使被测工件能在电机上进行特定的旋转,方便相机收集数据;初始化相机系统;从相机系统中获取已连接的所有相机的相机列表,并获取相机列表中的编号;根据需要修改指定相机内部参数;开启连续存储多张模式,开始进行相机的数据采集;图像数据转换完成后,点击界面按钮保存图像数据,图片则以JPG格式保存在特定的数据库中;数据采集完毕后,关闭当前所用相机,注销三维形貌测量机控制系统。本方案与现有技术相比具有很强的适应性,根据不同环境与工件,能通过实时调参来获得最好的数据采集效果。
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公开(公告)号:CN115908344A
公开(公告)日:2023-04-04
申请号:CN202211521857.9
申请日:2022-11-30
Applicant: 广东工业大学
IPC: G06T7/00 , G06V10/82 , G06V10/94 , G06V10/776
Abstract: 本发明涉及计算机视觉图像处理技术领域,更具体地说,它涉及一种基于MLCT‑YOLO的M i cro LED芯片缺陷检测方法,其技术方案要点是,包括以下步骤:S1、构建多尺度的M i cro LED数据集;S2、建立用于对芯片缺陷定位及分类的深度神经网络MLCT‑YOLO;S3、将所述深度神经网络MLCT‑YOLO部署到边缘设备。本发明设计了端到端的深度神经网络MLCT‑YOLO模型,其模型大小、参数量以及计算复杂度相比其他算法有大幅度的优化。设计瓶颈块MA‑Bott l eneck,在节省计算资源的同时达到更好的定位和分类效果。设计类别平衡损失CB‑BCE Loss,使得训练成本得到更合理的分配,同时提高了模型提取重要特征的能力。
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公开(公告)号:CN110617778B
公开(公告)日:2021-06-22
申请号:CN201910926025.7
申请日:2019-09-27
Applicant: 广东工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于复光束角度传感器的大型非球面形貌检测方法,包括如下步骤:步骤S1:将大型非球面工件放置在用于测量的倾斜台上,并从硬件和软件两方面消除测量误差;步骤S2:角度差的测量:使用傅里叶变换算法对大型非球面进行一次圆周扫描;步骤S3:通过角度差Δc计算轮廓P;步骤S4:大型非球面的轮廓测量。该检测方法属于非接触式的形貌测量技术,可以解决接触性检测因物理接触而造成的被测表面损伤;该检测方法有周向扫描功能,可以解决相移干涉测量法适用的测量尺度范围较小的缺点,该装置通过对不同半径的圆形扫描进行重复实验,以获得表面的整体形状,并重建大型非球面的表面形貌,可以解决莫尔测偏法测量精度较低的不足。
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公开(公告)号:CN112950650A
公开(公告)日:2021-06-11
申请号:CN202110111535.6
申请日:2021-01-27
Applicant: 广东工业大学
Abstract: 本发明公开了一种适用于高精度形貌测量的深度学习畸变光斑中心提取方法,包括以下步骤:S1、通过复光束角度传感器采集多光斑图像,进行光斑判别;S2、对经过光斑判别后的多光斑图像进行光斑分割;S3、进行基于DSCNet的光斑校正,使畸变光斑的能量分布近似于高斯光斑;S4、进行高斯拟合法中心提取。本发明能够校正畸变光斑,提高畸变光斑中心的提取精度,自适应能力强,提高复光束角度传感器的测量精度。通过本发明,复光束角度传感器能够准确地测量大曲率工件的三维形貌,能在工业上得到广泛应用。
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公开(公告)号:CN117152120A
公开(公告)日:2023-12-01
申请号:CN202311246028.9
申请日:2023-09-25
Applicant: 广东工业大学
IPC: G06T7/00 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明涉及缺陷检测领域,更具体地说,它涉及一种基于深度学习的MicroLED缺陷实时检测方法,其技术方案要点是:S1、通过自动扫描系统采集MicroLED图像,对所述图像制作标签文件并进行数据增强;S2、将增强后的数据用于训练端到端的MicroLED缺陷检测深度神经网络中,评估并保存最优模型参数;S3、将未标注的MicroLED图像输入到检测网络中,得到MicroLED缺陷的预测坐标与类别信息。本发明优点在于建立了一个端到端的缺陷检测深度神经网络,克服了传统算法低准确率、低召回率、低鲁棒性等难题,能够在多种尺度下精确预测出MicroLED图形中存在的缺陷的类别与位置,实现MicroLED低区分度缺陷的实时检测。
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公开(公告)号:CN112729152B
公开(公告)日:2022-03-25
申请号:CN202011422371.0
申请日:2020-12-08
Applicant: 广东工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于双曲线阈值去噪的峰值提取方法,包括以下步骤:S1、对信号进行预处理,得到频谱序列Y,并以频谱序列Y为纵坐标,频谱序列Y的频率取值B为横坐标绘制出信号有效波段的频谱图;S2、对频谱序列Y进行双曲线阈值去噪处理,得到去噪后的频谱图;S3、对频谱图的有效峰值进行提取。本发明在进行双曲线阈值去噪的基础上通过采用波峰宽度阈值和高度均值及其条件权值来进行峰值提取,使自适应能力、精确度和分辨率都得到提高。只要求得有效峰值频率,就能计算出绝对距离,通过双曲线阈值去噪和峰值提取的方法可以将肉眼分辨不出来的有效峰值提取出来,从而扩大分光干涉仪的测距范围。
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公开(公告)号:CN112270703A
公开(公告)日:2021-01-26
申请号:CN202011049755.2
申请日:2020-09-29
Applicant: 广东工业大学
Abstract: 本发明公开了一种用于定位系统的光斑图像亚像素级别重心提取方法,包括以下步骤:S1、获取定位系统的原始光斑图像Img1;S2、对原始光斑图像Img1进行预处理,得到图像Img2;S3、利用光斑图像的连通特性,运用二值图像连通域标记法将图像Img2的连通区域作同一个标记,根据连通域标记的参数对图像进行分割,将多个光斑转化成单光斑的定位问题;S4、利用质心法对每个连通区域光斑图像的重心进行初步定位,然后取整,得到整像素级别的重心坐标;S5、将梯度法运用到重心提取中,得到亚像素级别的重心坐标。本发明具有计算简单、运算速度快、提取精度高等优点。
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公开(公告)号:CN111986118A
公开(公告)日:2020-11-24
申请号:CN202010897242.0
申请日:2020-08-31
Applicant: 广东工业大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种加权核范数最小化的水下计算鬼成像图像去噪方法及系统,包括:数字微反射镜DMD;可调光源;第一会聚透镜,安装在可调光源的前方;投影透镜,安装在数字微反射镜DMD的前方;第二会聚透镜,用于采集从目标物反射回来的光;光强探测器,处于第二会聚透镜的焦点处;计算机。该加权核范数最小化的水下计算鬼成像图像去噪方法及系统,易于实现和安装、成本低廉、操作和控制方便。通过采用加权核范数最小化图像去噪方法,可以去除水下背向散射光产生的噪声,提高成像质量。同时,由于采用可调光源,可以根据成像距离调节光源亮度,扩大成像范围,实用性更强。本发明实施例有利于水下成像及计算鬼成像技术的应用研究。
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公开(公告)号:CN111986118B
公开(公告)日:2023-06-16
申请号:CN202010897242.0
申请日:2020-08-31
Applicant: 广东工业大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种加权核范数最小化的水下计算鬼成像图像去噪方法及系统,包括:数字微反射镜DMD;可调光源;第一会聚透镜,安装在可调光源的前方;投影透镜,安装在数字微反射镜DMD的前方;第二会聚透镜,用于采集从目标物反射回来的光;光强探测器,处于第二会聚透镜的焦点处;计算机。该加权核范数最小化的水下计算鬼成像图像去噪方法及系统,易于实现和安装、成本低廉、操作和控制方便。通过采用加权核范数最小化图像去噪方法,可以去除水下背向散射光产生的噪声,提高成像质量。同时,由于采用可调光源,可以根据成像距离调节光源亮度,扩大成像范围,实用性更强。本发明实施例有利于水下成像及计算鬼成像技术的应用研究。
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