公开(公告)号：CN114496025A

公开(公告)日：2022-05-13

申请号：CN202210068744.1

申请日：2022-01-20

Applicant: 安徽大学

Inventor： 赵强 ,  李正亚 ,  高珊 ,  郝礼才 ,  彭春雨 ,  卢文娟 ,  吴秀龙 ,  蔺智挺 ,  陈军宁

IPC: G11C11/413 ,  G11C8/14 ,  G11C7/18 ,  G11C5/14

Abstract: 本发明公开了一种基于极性加固技术的12T抗辐照SRAM存储单元，包括4个NMOS晶体管和8个PMOS晶体管；内部存储节点I2和I3由P2和P3交叉耦合，外部存储节点I1和I4由N1和N2交叉耦合；P1和P4作为上拉管，P1和P4对I2和I3进行加固，I2和I3全部由PMOS晶体管包围，这构成了极性加固结构；I2通过P7连接到第BLB，I3通过P8连接到BL，I1通过N3连接到BL，I4通过N4连接到BLB，N3和N4由WL控制，P7和P8由WWL控制。本发明能够提高SRAM存储单元的抗单粒子翻转能力，而且可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅提高SRAM存储单元写速度，降低了SRAM存储单元的功耗。