一种非易失性3T1R1C存储电路、矫正电路、DRAM和存算电路

    公开(公告)号:CN116052741A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310055641.6

    申请日:2023-01-17

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明属于集成电路技术领域,具体涉及一种非易失性3T1R1C存储电路、矫正电路、DRAM和存算电路。非易失性3T1R1C存储电路包括三个N型晶体管M0、M1、M2、一个称为R0的RRAM和一个电容C0;电路连接关系如下:M0、M1、M2的栅极分别作为控制端用于连接独立的字线WL_A、WL_B和WL_C;M0和M1的源极相连并连接在位线BL上;M1的漏极和M2的源极相连,并连接在C0的一端上,C0的另一端接地;M0和M2的漏极与R0的TE端相连,R0的BE端连接到字线SL。矫正电路用于解决3T1R1C存储电路数据恢复时的数据反相问题,DRAM和存算电路以3T1R1C存储电路为基本存储单元设计。本发明解决了DRAM断电丢数据,以及执行乘累加运算的精度易受到位线电压变化、驱动波动、器件不匹配等因素影响问题。

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