氮化硅粉末、氮化硅烧结体和电路基板、以及氮化硅粉末的制造方法

    公开(公告)号:CN106470939B

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201580036058.4

    申请日:2015-06-16

    Abstract: 本发明的课题在于提供兼具高的导热率和高的机械强度的氮化硅烧结体和电路基板、作为其原料的氮化硅粉末及其制造方法。提供氮化硅粉末、由该氮化硅粉末得到的氮化硅烧结体和电路基板、以及该氮化硅粉末的制造方法。该氮化硅粉末的特征为:比表面积为4.0~9.0m2/g,β相的比例小于40%,氧含量为0.20~0.95质量%,通过由激光衍射散射法测定体积基准的粒度分布而得到的频率分布曲线具有2个峰,该峰的峰顶在0.4~0.7μm的范围和1.5~3.0μm的范围,上述峰顶的频率比(粒径0.4~0.7μm范围的峰顶的频率/粒径1.5~3.0μm范围的峰顶的频率)为0.5~1.5,由上述粒度分布测定得到的中位直径D50(μm)与由上述比表面积计算的比表面积当量直径DBET(μm)之比D50/DBET(μm/μm)为3.5以上。

    氮化硅粉末、氮化硅烧结体和电路基板、以及氮化硅粉末的制造方法

    公开(公告)号:CN106470939A

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201580036058.4

    申请日:2015-06-16

    Abstract: 本发明的课题在于提供兼具高的导热率和高的机械强度的氮化硅烧结体和电路基板、作为其原料的氮化硅粉末及其制造方法。提供氮化硅粉末、由该氮化硅粉末得到的氮化硅烧结体和电路基板、以及该氮化硅粉末的制造方法。该氮化硅粉末的特征为:比表面积为4.0~9.0m2/g,β相的比例小于40%,氧含量为0.20~0.95质量%,通过由激光衍射散射法测定体积基准的粒度分布而得到的频率分布曲线具有2个峰,该峰的峰顶在0.4~0.7μm的范围和1.5~3.0μm的范围,上述峰顶的频率比(粒径0.4~0.7μm范围的峰顶的频率/粒径1.5~3.0μm范围的峰顶的频率)为0.5~1.5,由上述粒度分布测定得到的中位直径D50(μm)与由上述比表面积计算的比表面积当量直径DBET(μm)之比D50/DBET(μm/μm)为3.5以上。

    氮化硅基板的制造方法以及氮化硅基板

    公开(公告)号:CN112912356A

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN201980070845.9

    申请日:2019-10-29

    Abstract: 一种氮化硅基板的制造方法,其特征在于,将包含氮化硅粉末和烧结助剂的多张生片以在它们之间夹持分离材料的方式层叠并烧结后进行分离,由此得到多张氮化硅烧结体,从而由氮化硅烧结体得到氮化硅基板,分离材料包含氮化硅粉。由于得到的氮化硅基板在表面不含氮化硼粉,因此在与铜接合时的热循环性优异。分离材料的通过BET法测定的比表面积为1m2/g以上且20m2/g以下,通过激光衍射散射法测定的体积基准的50%粒径D50为20μm以下,并且氧量为0.3重量%以上且低于2重量%,通过将分离材料以0.1mg/cm2以上且3mg/cm2以下的涂布量涂布在生片表面,能够得到热导率在室温下为80W/(m·K)以上、4点弯曲强度在室温下为800MPa以上的氮化硅基板。

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