公开(公告)号：CN119624877A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411661030.7

申请日：2024-11-20

Applicant: 宁夏隆基宁光仪表股份有限公司

Inventor： 赵四海 ,  苏凯明 ,  钟大磊 ,  刘润超 ,  韩博 ,  陈繁 ,  柳东海 ,  崔心顺 ,  魏龙飞 ,  刘彦春

IPC: G06T7/00 ,  G06T5/70 ,  G06T5/20

Abstract: 本申请公开了一种基于多尺度掩膜图像降维的电能表仪表盘缺陷检测用计算速率提升方法，先对原始图像进行滤波去噪、多层金字塔变换、多尺度掩膜和双边滤波得目标图像，接着构建掩膜模型，进行卷积计算得标准值后拟合成标准一维函数，检测时，只需要根据掩膜模型对各待检测原始图像进行卷积计算得相应的检测值，并将各检测值拟合成检测一维函数；通过比对标准一维函数和检测一维函数所在曲线的差异度，就可确定仪表盘的缺陷，减少了计算量，同时在面对电能表仪表盘规格差异大、显示内容多样化的挑战时，具有更强的泛化能力，提高了对电能表仪表盘的图像计算效率。