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公开(公告)号:CN110066985A
公开(公告)日:2019-07-30
申请号:CN201910352388.4
申请日:2019-04-29
Applicant: 复旦大学
IPC: C23C16/30 , C23C16/455 , B82Y30/00
Abstract: 本发明公开了一种利用原子层沉积制备GaON薄膜包覆微结构材料的方法。本发明利用等离子体增强原子层沉积(PEALD)制备技术,通过使用前驱体三甲基镓作为镓源,NH3与O2等离子体作为氮源和氧源。将反应气体按照一定比例同时通入原子层沉积(ALD)反应腔体,通过控制原子层沉积的反应循环次数,在微结构材料表面均匀包覆一层预定厚度的GaON薄膜。本发明公开的制备GaON薄膜包覆纳米微结构的方法,包覆厚度和包覆层薄膜的含量都可通过ALD工艺参数精确可调,操作简单,包覆后提升纳米微结构的光电性能效果显著。该方法在传感器、光电探测、微电子器件、光电催化和能源等领域具有重要的科学价值和广泛的应用前景。
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公开(公告)号:CN110066986A
公开(公告)日:2019-07-30
申请号:CN201910352481.5
申请日:2019-04-29
Applicant: 复旦大学
IPC: C23C16/30 , C23C16/455
Abstract: 本发明公开了一种利用原子层沉积一步法可控制备不同氧氮含量的GaON薄膜的方法。本发明利用PEALD制备技术,通过使用前驱体三甲基镓作为镓源,NH3与O2等离子体作为氮源和氧源。将反应气体按比例同时通入反应腔体,通过调控NH3与O2气体的流量比,从而在衬底上可控制备一定氧氮含量的高质量GaON薄膜。本发明方法制备的GaON薄膜可以达到厚度原子量级可控和大面积的均匀性。本发明制备的GaON薄膜,由于氧氮含量可控,带隙可调,具有良好光电性能,在传感器、光电探测、微电子器件、光电催化和能源等领域具有重要的科学价值和广泛的应用前景。
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