公开(公告)号：CN102263609B

公开(公告)日：2014-03-05

申请号：CN201010192374.X

申请日：2010-05-31

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： 刘洋 ,  林一帆 ,  范博 ,  李宇飞

IPC: H04L1/00

CPC classification number: H03M13/333 ,  H03M13/09 ,  H03M13/2742 ,  H03M13/51 ,  H03M13/6561 ,  H04L1/0046 ,  H04L7/048

Abstract: 本发明公开了一种用于以太网前向纠错层接收的数据流的帧边界检测方法和设备，并公开了一种用于以太网前向纠错层接收的数据流的解码方法和系统。该帧边界检测设备可以包括：缓存器，用于对数据流中的数据进行缓存，所述缓存器的数据长度大于1帧；校正子生成器，用于基于第一数据项、第二数据项以及前一校正子的中间计算结果计算当前校正子，其中第一数据项是当前待测帧的最后一比特数据，第二数据项是所述当前待测帧的前一比特数据；以及比较器，用于使用当前校正子检测所述第一比特数据是否是一个以太网前向纠错层帧边界。该帧边界检测设备可以提高帧边界检测速度。

公开(公告)号：CN102736986A

公开(公告)日：2012-10-17

申请号：CN201110081052.2

申请日：2011-03-31

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： 潘永锋 ,  李宇飞 ,  范博 ,  陈亮

IPC: G06F12/08 ,  G06F17/30

CPC classification number: G06F17/30982 ,  G06F12/0864 ,  G06F12/0895 ,  G06F17/3033 ,  G06F2212/1024

Abstract: 本发明公开了一种内容可寻址存储器及其检索数据的方法，该方法包括：将接收的输入数据项生成哈西索引数据项；在所述高速缓存器中查找是否存在与所述哈西索引数据项对应的RAM数据行的行标记；如果存在，根据对应的RAM数据行的行标记从所述RAM中查找与所述输入数据项对应的RAM数据项；如果不存在，利用所述哈西索引数据项在所述RAM中查找与所述输入数据项对应的RAM数据项；以及响应于在所述RAM中找到与所述输入数据项对应的RAM数据项，输出该RAM数据项所对应的数据。该方法能提高CAM的检索数据的速度。

公开(公告)号：CN102263609A

公开(公告)日：2011-11-30

申请号：CN201010192374.X

申请日：2010-05-31

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： 刘洋 ,  林一帆 ,  范博 ,  李宇飞

IPC: H04L1/00

CPC classification number: H03M13/333 ,  H03M13/09 ,  H03M13/2742 ,  H03M13/51 ,  H03M13/6561 ,  H04L1/0046 ,  H04L7/048

Abstract: 公开了一种用于以太网前向纠错层接收的数据流的帧边界检测方法和设备，并公开了一种用于以太网前向纠错层接收的数据流的解码方法和系统。该帧边界检测设备可以包括：缓存器，用于对数据流中的数据进行缓存，所述缓存器的数据长度大于1帧；校正子生成器，用于基于第一数据项、第二数据项以及前一校正子的中间计算结果计算当前校正子，其中第一数据项是当前待测帧的最后一比特数据，第二数据项是所述当前待测帧的前一比特数据；以及比较器，用于使用当前校正子检测所述第一比特数据是否是一个以太网前向纠错层帧边界。该帧边界检测设备可以提高帧边界检测速度。

公开(公告)号：CN102968515B

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201110270261.1

申请日：2011-08-31

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： 范博 ,  陈亮 ,  潘永峰 ,  周凡

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5022

Abstract: 本发明实施例提供了一种计算集成电路模型的验证覆盖率的方法，包括：获取待验证集成电路模型的逻辑结构；根据所述逻辑结构，搜索并记录所述待验证集成电路模型中的信号路径；以及计算验证对所述信号路径的覆盖率。根据本发明实施例提供的技术方案，可以得到基于信号路径的验证覆盖率，从而更加准确地提供有关验证完备性的数据。

公开(公告)号：CN102968515A

公开(公告)日：2013-03-13

申请号：CN201110270261.1

申请日：2011-08-31

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： 范博 ,  陈亮 ,  潘永峰 ,  周凡

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5022

Abstract: 本发明实施例提供了一种计算集成电路模型的验证覆盖率的方法，包括：获取待验证集成电路模型的逻辑结构；根据所述逻辑结构，搜索并记录所述待验证集成电路模型中的信号路径；以及计算验证对所述信号路径的覆盖率。根据本发明实施例提供的技术方案，可以得到基于信号路径的验证覆盖率，从而更加准确地提供有关验证完备性的数据。