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公开(公告)号：CN104252469A
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201310260868.0
申请日：2013-06-27
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G06F17/30
CPC classification number: H04L63/1408 , G06F2207/025 , H04L63/14 , G06F17/30985
Abstract: 根据本发明实施例的用于模式匹配的方法，所述模式匹配在模式流中寻找目标模式，所述模式流和目标模式均由元素组成，该方法包括：获取目标模式中的目标元素的出现次数；初始化暂存区，其中所述暂存区指示模式流中的一个区间；判断暂存区中所述目标元素的出现次数是否达到所述目标模式中的目标元素的出现次数；响应于暂存区中所述目标元素的出现次数未达到所述目标模式中的目标元素的出现次数，更新所述暂存区后返回所述判断步骤；响应于暂存区中所述目标元素的出现次数达到所述目标模式中的目标元素的出现次数，输出所述暂存区中的元素供后续处理。本申请还公开了用于模式匹配的设备和电路。根据本发明实施例的技术方案可以加快模式匹配的速度。
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公开(公告)号：CN104252469B
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201310260868.0
申请日：2013-06-27
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G06F17/30
CPC classification number: H04L63/1408 , G06F2207/025 , H04L63/14
Abstract: 根据本发明实施例的用于模式匹配的方法，所述模式匹配在模式流中寻找目标模式，所述模式流和目标模式均由元素组成，该方法包括：获取目标模式中的目标元素的出现次数；初始化暂存区，其中所述暂存区指示模式流中的一个区间；判断暂存区中所述目标元素的出现次数是否达到所述目标模式中的目标元素的出现次数；响应于暂存区中所述目标元素的出现次数未达到所述目标模式中的目标元素的出现次数，更新所述暂存区后返回所述判断步骤；响应于暂存区中所述目标元素的出现次数达到所述目标模式中的目标元素的出现次数，输出所述暂存区中的元素供后续处理。本申请还公开了用于模式匹配的设备和电路。根据本发明实施例的技术方案可以加快模式匹配的速度。
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公开(公告)号：CN102968515B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201110270261.1
申请日：2011-08-31
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5022
Abstract: 本发明实施例提供了一种计算集成电路模型的验证覆盖率的方法，包括：获取待验证集成电路模型的逻辑结构；根据所述逻辑结构，搜索并记录所述待验证集成电路模型中的信号路径；以及计算验证对所述信号路径的覆盖率。根据本发明实施例提供的技术方案，可以得到基于信号路径的验证覆盖率，从而更加准确地提供有关验证完备性的数据。
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公开(公告)号：CN102968515A
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN201110270261.1
申请日：2011-08-31
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5022
Abstract: 本发明实施例提供了一种计算集成电路模型的验证覆盖率的方法，包括：获取待验证集成电路模型的逻辑结构；根据所述逻辑结构，搜索并记录所述待验证集成电路模型中的信号路径；以及计算验证对所述信号路径的覆盖率。根据本发明实施例提供的技术方案，可以得到基于信号路径的验证覆盖率，从而更加准确地提供有关验证完备性的数据。
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