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公开(公告)号：CN108508051A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810373122.3
申请日：2018-04-24
Applicant: 国家地质实验测试中心 , 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/223 , G01N23/2204
Abstract: 一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪，包括X射线源、滤光片切换机构、样品运动台、样品杯、光阑切换机构、初级准直器切换机构、分光晶体切换机构、次级准直器切换机构、流气式正比计数器、闪烁计数器、SDD探测器、主控板以及PC机。本发明的优点是，在对样品进行整体成分分析和分布分析时，既可以采用能谱功能快速完成检测或点/面扫描，也可以采用波谱功能对样品整体或某一区域进行元素分析和分布分析，本发明实现了波谱能谱功能的有机结合，并使两项功能都能应用在样品整体的元素成分分析和分布分析，具有高分辨、快速、灵活及可组合的特点，不仅可以提高分析结果的可靠性，也可以明显提高检测效率。
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公开(公告)号：CN208076423U
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201820591698.2
申请日：2018-04-24
Applicant: 国家地质实验测试中心 , 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/223 , G01N23/2204
Abstract: 一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪，包括X射线源、滤光片切换机构、样品运动台、样品杯、光阑切换机构、初级准直器切换机构、分光晶体切换机构、次级准直器切换机构、流气式正比计数器、闪烁计数器、SDD探测器、主控板以及PC机。本实用新型的优点是，在对样品进行整体成分分析和分布分析时，既可以采用能谱功能快速完成检测或点/面扫描，也可以采用波谱功能对样品整体或某一区域进行元素分析和分布分析，本实用新型实现了波谱能谱功能的有机结合，并使两项功能都能应用在样品整体的元素成分分析和分布分析，具有高分辨、快速、灵活及可组合的特点，不仅可以提高分析结果的可靠性，也可以明显提高检测效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN109142321A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810864094.5
申请日：2018-08-01
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N21/71
CPC classification number: G01N21/718 , G01N2201/12
Abstract: 本发明涉及一种用于激光诱导击穿光谱仪的信号控制与采集系统及方法，包括激光电源控制单元、信号积分延时控制单元、信号积分放大单元、数据采集处理单元、负高压采集控制单元和通讯接口转换单元；激光电源控制单元输出同步触发信号；信号积分延时控制单元由该同步触发信号触发输出多通道积分延时信号；信号积分放大单元受多通道积分延时信号控制并对多通道光电探测器的输出信号进行积分放大；数据采集处理单元对积分放大后的信号进行采集、存储、打包及传输；负高压采集控制单元对多通道光电探测器的负高压进行监控。本发明实现了各通道信号积分延时时间、积分放大、负高压分别独立、高精度连续可调，提高了各通道元素测量的准确性。
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公开(公告)号：CN109239117A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201811256793.8
申请日：2018-10-26
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置及方法，该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本发明的优点在于样品无需前处理，适用于固体和液体样品，具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。
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公开(公告)号：CN105676725B
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201610006001.6
申请日：2016-01-04
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G05B19/042
Abstract: 一种用于火花光谱仪的信号采集控制系统，属于火花光谱仪技术领域。包括PC机、网线、数据采集传输处理模块、串口线、负高压控制模块。PC机与数据采集传输处理模块通过以太网通讯，负高压控制模块输出多路负高压控制信号，数据采集传输处理模块对多通道光电检测器输出信号进行采集、处理及传输。优点在于，采用高分辨率高速并行AD采集元素谱线强度，因而采集速率快、精度高；采用多通道DA设置施加在光电检测器的负高压，实现多通道的负高压的实时数字化控制；采用FPGA作为主控制器，实现系统各项功能并行实时处理；采用FPGA内建FIFO进行存储，实现谱线强度信号的实时存储及处理；通过以太网与PC机通讯，提高通讯可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108015756A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201711445025.2
申请日：2017-12-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种单一电机驱动的能够升降的高精度抓放机械手，该机械手包括驱动模块、执行模块和控制模块；驱动模块采用单个电机作为唯一动力装置；执行模块包括机械手手部和机械手运动机构；其中机械手手部包括四只手臂，这四只手臂两两通过限位轴平行连接，通过弹簧和两个啮合的半齿轮实现四只手臂的联动；机械手运动机构由一个凸轮单元和多个杠杆构成，该凸轮单元包括两个同轴设置、互相平行的盘形凸轮，其中的大凸轮(7)驱动多个手臂同时内夹、外张，小凸轮(8)驱动手部的下降和回升；控制模块，包括两个传感反馈装置，分别用于定位机械手手部的升降位置和判断机械手手部是否抓取到物品。该机械手结构简单、操控容易、抓放精确、可靠性高。
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公开(公告)号：CN108562603A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201711021336.6
申请日：2017-10-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种用于波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪的X射线探测系统。该X射线探测系统可选择性地进行能谱测量和/或波谱测量，它包括PC机、探测器运动装置、并联的能谱测量探测器和波谱测量探测器、多个高压电路、多个前置放大电路和一个脉冲处理电路；PC机分别与探测器运动装置和各高压电路连接通讯，探测器运动装置控制能谱测量探测器和波谱测量探测器的测量位置，多个高压电路分别施加高压于各个探测器并产生幅度正比于入射X射线能量的电脉冲信号，各个探测器的出端有前置放大电路预放大探测器产生的电脉冲信号，不同探测器的输出信号输入同一脉冲处理电路进行选择及统一化处理。本发明实现了波谱能谱一体化。
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公开(公告)号：CN108152313A
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201711447124.4
申请日：2017-12-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种用于顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统及方法。系统包括操作界面模块、晶体架控制模块、测角仪θ轴与2θ轴高精度步进电机控制模块、探测器数据采集模块、数据图像处理模块；系统选择被测元素谱线作为标定测角仪的基准谱线，通过布拉格方程计算出晶体掠射角与探测器出射角，将测角仪的θ轴与2θ轴旋转到指定位置，通过控制安装在θ轴与2θ轴的步进电机、晶体架、探测器实现对晶体与探测器位置的自动调整，获得晶体校正因子，从而对晶体掠射角与探测器出射角进行校正。本发明实现对分光光路的远程自动调试，保护调试人员免受X射线辐射，减少对调试人员调试经验的依赖，提高调试效率与精度。
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公开(公告)号：CN107941830A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711445064.2
申请日：2017-12-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/207
CPC classification number: G01N23/2076 , G01N2223/0568 , G01N2223/1016 , G01N2223/406
Abstract: 本发明涉及的是一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪的关键功能部件，特别涉及一种用于波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪的分布分析图像采集与数据处理系统。该系统通过成像模块精确定位待测样品表面区域，驱动样品移动到指定位置，进行能谱全元素分布分析和波谱单元素分布分析，经过数据定性定量分析模块将能谱数据与波谱数据结合，得到样品表面待测区域的元素含量的分布分析信息，通过数据图象处理模块建立二维和三维数据模型并显示。本发明将能谱快速扫描与波谱对重点区域精细扫描相结合，对样品进行快速高精度定位分析，提高分析速度和分析灵敏度，将常规分析与元素分布分析相结合，波谱与能谱相结合，拓展了WEDXRF光谱仪应用领域。
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公开(公告)号：CN109239117B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN201811256793.8
申请日：2018-10-26
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置及方法，该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本发明的优点在于样品无需前处理，适用于固体和液体样品，具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。(100)、样品杯(300)以及控制单元；X射线荧光分
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