一种跨境货品多参量无损原位检测仪

    公开(公告)号:CN113310965A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110622901.4

    申请日:2021-06-04

    Abstract: 本发明公开了一种跨境货品多参量无损原位检测仪,包括整机壳体以及设置在整机壳体内的XRF检测模块、Raman检测模块、真空系统、样品仓、供电系统、微型控制及显示模块,微型控制及显示模块分别与XRF检测模块、Raman检测模块、真空系统、供电系统电性连接;XRF检测模块包括依次连接的高压电源、X射线管、X射线聚焦弯晶、硅漂移探测器、前置放大器、多道采集器;Raman检测模块包括近红外消色差物镜和拉曼检测模块,拉曼检测模块包括差分拉曼子模块和近红外拉曼子模块,差分拉曼子模块和近红外拉曼子模块由光谱二向色镜将光路耦合。本发明将XRF模块和Raman模块进行原位复合聚焦一体化设计,可以实现跨境货品的防伪报侦检和有害物质的现场快速无损检测。

    一种跨境货品多参量无损原位检测仪

    公开(公告)号:CN113310965B

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202110622901.4

    申请日:2021-06-04

    Abstract: 本发明公开了一种跨境货品多参量无损原位检测仪,包括整机壳体以及设置在整机壳体内的XRF检测模块、Raman检测模块、真空系统、样品仓、供电系统、微型控制及显示模块,微型控制及显示模块分别与XRF检测模块、Raman检测模块、真空系统、供电系统电性连接;XRF检测模块包括依次连接的高压电源、X射线管、X射线聚焦弯晶、硅漂移探测器、前置放大器、多道采集器;Raman检测模块包括近红外消色差物镜和拉曼检测模块,拉曼检测模块包括差分拉曼子模块和近红外拉曼子模块,差分拉曼子模块和近红外拉曼子模块由光谱二向色镜将光路耦合。本发明将XRF模块和Raman模块进行原位复合聚焦一体化设计,可以实现跨境货品的防伪报侦检和有害物质的现场快速无损检测。

    一种双曲面晶体成型装置

    公开(公告)号:CN113459314A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110823164.4

    申请日:2021-07-21

    Abstract: 本发明提供了一种双曲面晶体成型装置,属于成型装置技术领域。该成型装置,包括固定基座、施压重块、吊装线、支架和配重块;固定基座包括用于固定双曲面晶体的凹模固定台和竖直设置于凹模固定台上的导轨,导轨上开设有导轨槽,施压重块通过导轨槽与导轨滑动连接;吊装线的一端与施压重块相连接,另一端绕过设置于支架上的定滑轮与配重块相连接。本发明提供的双曲面晶体成型装置,通过固定支架上带有的滑轮可以通过调整配重系统重物的多少来调节双曲面晶体受到的压力;通过导轨来限制施压装置的摆动,使得压力能准确的加载到晶体的上。

    快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法

    公开(公告)号:CN109540948A

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201811265635.9

    申请日:2018-10-29

    Abstract: 本发明属于元素分析检测技术领域,特别涉及一种快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法。分析仪包括机柜(101)、电脑(102)、样品腔室(303)、X射线光管(301)、探测器(302)、样品杯(305)、高压电源(306)、升降平台(201)和真空泵;分析方法为:将表面光洁待测样品(501)装入样品杯(305)中,通过电脑(102)控制升降平台(201)将样品杯(305)向上升起,进入样品腔室(303)内的检测位置并采用无油真空泵快速抽真空,可同时测定痕量多个轻元素;检出限可低至1ppm。本发明能够极大降低空气对轻元素特征谱峰的吸收,降低检出限;整个测试无耗材,具有操作简单、无损快速、精确定量、低成本等特点。

    一种用于痕量元素测定的单波长X射线装置及设计方法

    公开(公告)号:CN111896570A

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN202010960768.9

    申请日:2020-09-14

    Abstract: 本申请涉及X射线荧光分析的领域,尤其是涉及一种用于痕量元素测定的单波长X射线装置及设计方法。一种用于痕量元素测定的单波长X射线装置,包括箱体、位于箱体内的X射线发生元件、X射线衍射聚焦元件,所述X射线衍射聚焦元件包括双曲面弯晶,所述箱体的上方成型有通孔,X射线发生元件发射的X射线经X射线衍射聚焦元件衍射后聚焦在通孔。通过在箱体上设置通孔后,将样品放置在通孔位置。X射线发生元件发射的X射线经过双曲面弯晶后衍射后,单波长X射线聚焦在通孔位置,照射在样品上。由于减少了连续谱干扰,降低了背景干扰,能够提高痕量元素检出精度。

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