一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪

    公开(公告)号:CN108508051A

    公开(公告)日:2018-09-07

    申请号:CN201810373122.3

    申请日:2018-04-24

    Abstract: 一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪,包括X射线源、滤光片切换机构、样品运动台、样品杯、光阑切换机构、初级准直器切换机构、分光晶体切换机构、次级准直器切换机构、流气式正比计数器、闪烁计数器、SDD探测器、主控板以及PC机。本发明的优点是,在对样品进行整体成分分析和分布分析时,既可以采用能谱功能快速完成检测或点/面扫描,也可以采用波谱功能对样品整体或某一区域进行元素分析和分布分析,本发明实现了波谱能谱功能的有机结合,并使两项功能都能应用在样品整体的元素成分分析和分布分析,具有高分辨、快速、灵活及可组合的特点,不仅可以提高分析结果的可靠性,也可以明显提高检测效率。

    一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪

    公开(公告)号:CN208076423U

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201820591698.2

    申请日:2018-04-24

    Abstract: 一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪,包括X射线源、滤光片切换机构、样品运动台、样品杯、光阑切换机构、初级准直器切换机构、分光晶体切换机构、次级准直器切换机构、流气式正比计数器、闪烁计数器、SDD探测器、主控板以及PC机。本实用新型的优点是,在对样品进行整体成分分析和分布分析时,既可以采用能谱功能快速完成检测或点/面扫描,也可以采用波谱功能对样品整体或某一区域进行元素分析和分布分析,本实用新型实现了波谱能谱功能的有机结合,并使两项功能都能应用在样品整体的元素成分分析和分布分析,具有高分辨、快速、灵活及可组合的特点,不仅可以提高分析结果的可靠性,也可以明显提高检测效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    用于波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪的X射线探测系统

    公开(公告)号:CN108562603B

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN201711021336.6

    申请日:2017-10-27

    Abstract: 本发明涉及一种用于波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪的X射线探测系统。该X射线探测系统可选择性地进行能谱测量和/或波谱测量,它包括PC机、探测器运动装置、并联的能谱测量探测器和波谱测量探测器、多个高压电路、多个前置放大电路和一个脉冲处理电路;PC机分别与探测器运动装置和各高压电路连接通讯,探测器运动装置控制能谱测量探测器和波谱测量探测器的测量位置,多个高压电路分别施加高压于各个探测器并产生幅度正比于入射X射线能量的电脉冲信号,各个探测器的出端有前置放大电路预放大探测器产生的电脉冲信号,不同探测器的输出信号输入同一脉冲处理电路进行选择及统一化处理。本发明实现了波谱能谱一体化。

    大尺寸金属材料表面夹杂物含量分布的火花光谱分析方法

    公开(公告)号:CN115639187A

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN202211419423.8

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 本发明公开了一种大尺寸金属材料表面夹杂物含量分布的火花光谱分析方法,通过火花放电连续激发扫描分析大尺寸金属材料表面,获得大尺寸金属材料表面的夹杂元素的固溶及夹杂的光谱强度混合分布数据,进一步得到光谱强度相对频数分布图;对光谱强度相对频数分布图进行正态分布和Gumbel极值分布分峰拟合处理,得到夹杂物的光谱强度的Gumbel极值分布数据;获取小样品的夹杂物数量及尺寸信息,获得最大夹杂物尺寸信息;将小样品的夹杂物尺寸信息及最大夹杂物尺寸信息与夹杂物的光谱强度分布数据进行关联,确定夹杂物的尺寸与光谱强度的对应关系,得到大尺寸金属材料表面的夹杂物的含量分布结果。本发明能够快速获得准确的金属材料表面各元素夹杂物分布信息。

    金相显微镜矩阵归一化校正方法

    公开(公告)号:CN110455797A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201910699157.0

    申请日:2019-07-31

    Abstract: 本发明属于金相分析技术领域,特别涉及一种金相显微镜矩阵归一化校正方法,适用于多个金相显微镜同时工作的大面积样品快速金相分析。该金相显微镜矩阵由i×j个金相显微镜组成,将待分析样品表面分割成多个区域,i×j个金相显微镜同时对样品表面进行显微放大、聚焦拍照;通过对标准化样品进行九点采集、十字运行轨迹计算每个金相显微镜的C’ij的安装位置与运动方向的角度偏差αij、坐标偏差(Δxij,Δyij)以及表观长度偏差Δli,实现金相显微镜矩阵的校正。采用本发明能很好的快速解决多金相显微镜之间的位置、角度、放大倍率差异性问题。

    超大尺寸金属原位分析仪中大数据快速处理方法

    公开(公告)号:CN112634121B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202011343868.3

    申请日:2020-11-26

    Abstract: 本发明属于超大尺寸金属原位分析技术领域,特别涉及一种基于CUDA平台的GPU并行运算技术的超大尺寸金属原位分析仪中大数据快速处理方法。本发明在集加工、扫描、表征于一体的超大尺寸金属原位分析仪上,将单火花积分光谱强度数据转化为基于CUDA平台的GPU并行计算技术要求的数据结构,通过CPU+GPU异构平台基础上的并行操作及算法优化大幅提高大数据的处理效率,并最终实现超大尺寸金属原位分析仪的分布表征,处理数据量大,计算速度快,准确度高,即时性强,所有数据结果5分钟内完成。

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