公开(公告)号：CN111707206B

公开(公告)日：2022-03-18

申请号：CN202010498424.0

申请日：2020-06-04

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 孙伟民 ,  戴昕宇 ,  谢天赐 ,  耿涛 ,  张彬 ,  李昊鹏 ,  石锲铭 ,  钱金钱 ,  贺泊 ,  李松

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明属于光纤传感应用领域，具体涉及一种用于对单点及多点发生微弯进行检测的带位置检测功能的量子点光纤微弯传感器。本发明使用紫外光作为激励光源，在光纤内部传播，当发生微弯损耗时，紫外光溢出纤芯激发涂覆在包层外特定位置的量子点颗粒，被激发的量子点发出特征光谱，并耦合回光纤纤芯，被探测端的光谱仪检测、分析，并确认微弯损耗发生位置和微弯程度。本发明使用光纤的数量与使用量子点的数量相同能最大化使用效率。如果使用N根光纤以及N种荧光材料，能将检测区域区分为N(N+1)个区域，相比初始的一种量子点只能检测一个位置有了大大的提高。