小视场下基于2D-DIC的平面细长区域全场变形测量方法和装置

    公开(公告)号:CN117889769A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202311817566.9

    申请日:2023-12-27

    Abstract: 小视场下基于2D‑DIC的平面细长区域全场变形测量方法和装置,属于变形测量技术领域,解决变形测量精度低、成本较高以及系统复杂问题。本发明的方法包括:在视场受限的环境中使用虚拟相机阵列采集平面细长区域的全景图像;通过双反射镜平面外运动补偿、系统静态误差补偿以及适配的图像拼接与融合算法实现高精度的应变场测量;使用基于子集相关性和频域移位定理的亚像素补偿法寻找准确的拼接位置,实现高精度图像拼接并获得高分辨率图像;用正弦三角函数来代替传统淡入淡出法融合函数的线性权重曲线,消除了曲线在重叠区域边界位置产生的第二类不连续点。本发明使得2D‑DIC能够有效地应用于小视场下平面细长区域的高分辨率、高精度应变场测量当中。

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