公开(公告)号：CN118624607A

公开(公告)日：2024-09-10

申请号：CN202410703391.7

申请日：2024-06-03

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 高帅 ,  汪盛佳 ,  董博 ,  方未东 ,  常青

IPC: G01N21/84 ,  G02B21/36 ,  G02F1/13 ,  G02B21/00

Abstract: 本发明属于显微成像技术领域，具体涉及一种基于后端视场扫描的高通量显微成像方法，包括以下步骤：步骤1：建立显微成像系统；步骤2：在显微成像系统中，采用单色光源照明待成像样品，显微物镜对样品对焦，步骤3：将显微物镜收集到的物光引导至相位型液晶空间光调制器感光面上；步骤4：根据相位型液晶空间光调制器选型，使样品清晰成像在后端数字相机的感光面上；步骤5：生成对应数量n个的衍射透镜相位掩模；步骤6：每次上载一个新的相位掩模后刷新相位型液晶空间光调制器，并利用后端数字相机采集n个视场子区；步骤7：将n个视场子区按顺序排列，并对齐其像素行和列，完成全视场的拼接。本发明获得高通量显微成像结果。

公开(公告)号：CN118603331A

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202410465945.4

申请日：2024-04-18

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 高帅 ,  汪盛佳 ,  常青 ,  方未东

IPC: G01J9/02

Abstract: 本发明属于光学干涉测量技术领域，具体涉及矢量微分剪切干涉仪用二维微分相位分布同步提取方法，包括以下步骤：步骤一：搭建光学系统，以三束物光通过正交矢量微分剪切干涉技术进行调整，使三束物光两两之间形成错位干涉，在干涉平面上，建构公式①和②；步骤二～七：利用相移装置，分别对三束物光进行相移；步骤八：将步骤二～七中储存的具有相移的矢量微分剪切干涉结果I1～I6带入公式②，得到两个正交方向上的微分相位分布#imgabs0#和#imgabs1#本发明能够在不损失光学系统空间分辨率的前提下，有效解决矢量微分剪切干涉图中二维微分相位的耦合问题，实现对二维微分相位分布的同步分离和定量提取。