公开(公告)号：CN112397200B

公开(公告)日：2023-12-19

申请号：CN202011411075.0

申请日：2020-12-04

Applicant: 哈尔滨医科大学

Inventor： 孙文靖 ,  贾学渊 ,  司书涵 ,  焦晓辉 ,  宋红权 ,  雷常贵 ,  张学龙

IPC: G16H50/20 ,  C12Q1/6883 ,  G16B20/20

Abstract: 本发明公开了一种非综合征型唇腭裂遗传风险预测模型，其公式为：式中，k为SNP位点的个数；Gi表示第i个SNP位点遗传风险等位基因的个数，即为0，1，2；βi表示第i个SNP位点的权重；SNP为rs139860270、rs1883873、rs139530062、rs144415105、rs55816698、rs139860270、rs6989548、rs12952376。本发明的遗传风险评分模型将8个SNPs的微弱效应进行叠加，大大提高了对非综合征唇腭裂遗传风险的预测。本发明首次提出遗传风险评分模型评估对非综合征唇腭裂的遗风险能力。该模型准确性强，可以为我国的唇腭裂的

公开(公告)号：CN112397200A

公开(公告)日：2021-02-23

申请号：CN202011411075.0

申请日：2020-12-04

Applicant: 哈尔滨医科大学

Inventor： 孙文靖 ,  贾学渊 ,  司书涵 ,  焦晓辉 ,  宋红权 ,  雷常贵 ,  张学龙

IPC: G16H50/20 ,  C12Q1/6883 ,  G16B20/20

Abstract: 本发明公开了一种非综合征型唇腭裂遗传风险预测模型，其公式为： 式中，k为SNP位点的个数；Gi表示第i个SNP位点遗传风险等位基因的个数，即为0，1，2；βi表示第i个SNP位点的权重；SNP为rs139860270、rs1883873、rs139530062、rs144415105、rs55816698、rs139860270、rs6989548、rs12952376。本发明的遗传风险评分模型将8个SNPs的微弱效应进行叠加，大大提高了对非综合征唇腭裂遗传风险的预测。本发明首次提出遗传风险评分模型评估对非综合征唇腭裂的遗风险能力。该模型准确性强，可以为我国的唇腭裂的风险评估及防控提供更加全面、准确、个体化的科学依据。

公开(公告)号：CN206507947U

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201621110468.7

申请日：2016-10-10

Applicant: 哈尔滨医科大学

Inventor： 焦晓辉 ,  米娜 ,  郝嫣汝

IPC: A61B5/0492

Abstract: 本实用新型提供了一种用于评价腭咽闭合功能的肌电图仪电极，其主要包括双极表面电极、人工腭托、固位箭头卡环及弹簧；所述双极表面电极为片状，用于与软腭贴合；所述双极表面电极与固位箭头卡环相连；所述双极表面电极与固位箭头卡环之间设有金属弹簧，用于支撑和调节双极表面电极；所述人工腭托贴附于口腔上腭，所述的固位箭头卡环至少为一对，每个固位箭头卡环的一端固定于人工腭托，另一端用于与牙齿连接。本实用新型克服了传统测试电极的易于脱落，对受试者有侵害性，稳定性差等缺点，提供了精度高，功能强，操作灵活简便，费用低廉，对受试者无侵害性，受试者带上这种检测装置时不产生锐痛，易于配合，检测结果更加可靠。