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公开(公告)号：CN115362024A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202180025774.8
申请日：2021-03-25
Applicant: 吉田工业株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
IPC: B02C19/06
Abstract: 本发明提供可小型化且能以简单的结构使处理对象流体中所含的颗粒高度微粒化的湿式微粒化装置及方法。其课题为提供将混入处理对象流体内致混浊的颗粒微粒化的湿式微粒化装置(100)，其具备容纳处理对象流体的处理对象流体容纳容器(10)、具有靠柱塞(21)在内周壁滑动的垫圈(22)的针筒(20)、一端插入到处理对象流体容纳容器(10)内而另一端与针筒(20)连接的细管(30)和对柱塞(21)进行进退控制的控制部(40)，通过控制部(40)的控制，至少执行一次使柱塞(21)后退而将处理对象流体容纳容器(10)内的处理对象流体经由细管(30容纳到针筒(20)内，使柱塞(21)前进而使针筒(20)内容纳的处理对象流体经由细管(30)返回到处理对象流体容纳容器(10)内的微粒化处理。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115362024B
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202180025774.8
申请日：2021-03-25
Applicant: 吉田工业株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
IPC: B02C19/06
Abstract: 本发明提供可小型化且能以简单的结构使处理对象流体中所含的颗粒高度微粒化的湿式微粒化装置及方法。其课题为提供将混入处理对象流体内致混浊的颗粒微粒化的湿式微粒化装置(100)，其具备容纳处理对象流体的处理对象流体容纳容器(10)、具有靠柱塞(21)在内周壁滑动的垫圈(22)的针筒(20)、一端插入到处理对象流体容纳容器(10)内而另一端与针筒(20)连接的细管(30)和对柱塞(21)进行进退控制的控制部(40)，通过控制部(40)的控制，至少执行一次使柱塞(21)后退而将处理对象流体容纳容器(10)内的处理对象流体经由细管(30容纳到针筒(20)内，使柱塞(21)前进而使针筒(20)内容纳的处理对象流体经由细管(30)返回到处理对象流体容纳容器(10)内的微粒化处理。
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公开(公告)号：CN112840199B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN201980065132.3
申请日：2019-09-30
Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所 , 理音株式会社 , 铠侠股份有限公司
IPC: G01N15/0227 , G01N15/10 , G01N15/14 , G01N15/075 , G01N15/1433
Abstract: 本发明提供粒子测定装置、校正方法和测定装置，能使用校正用粒子简单地进行拍摄目标粒子等对象物的测定装置的校正。图像分析部(21)取得以时间间隔Δt得到的多个拍摄图像，(a)在校正模式下，根据所述多个拍摄图像中的校正用粒子的像素单位的光点的位移，确定校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal，(b)在测定模式下，根据所述多个拍摄图像中的目标粒子的光点的像素单位的位移，确定目标粒子的光点的均方位移ΔMS。并且粒径分析部(22)(c)在分析模式下，根据校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal以及校正用粒子的粒径dcal，从目标粒子的光点的均方位移ΔMS导出所述目标粒子的粒径d。
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公开(公告)号：CN110573855B
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN201880025094.4
申请日：2018-03-30
Applicant: 理音株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。
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公开(公告)号：CN112840199A
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN201980065132.3
申请日：2019-09-30
Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所 , 理音株式会社 , 铠侠股份有限公司
Abstract: 本发明提供粒子测定装置、校正方法和测定装置，能使用校正用粒子简单地进行拍摄目标粒子等对象物的测定装置的校正。图像分析部(21)取得以时间间隔Δt得到的多个拍摄图像，(a)在校正模式下，根据所述多个拍摄图像中的校正用粒子的像素单位的光点的位移，确定校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal，(b)在测定模式下，根据所述多个拍摄图像中的目标粒子的光点的像素单位的位移，确定目标粒子的光点的均方位移ΔMS。并且粒径分析部(22)(c)在分析模式下，根据校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal以及校正用粒子的粒径dcal，从目标粒子的光点的均方位移ΔMS导出所述目标粒子的粒径d。
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公开(公告)号：CN110573855A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201880025094.4
申请日：2018-03-30
Applicant: 理音株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。
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