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公开(公告)号：CN112840199B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN201980065132.3
申请日：2019-09-30
Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所 , 理音株式会社 , 铠侠股份有限公司
IPC: G01N15/0227 , G01N15/10 , G01N15/14 , G01N15/075 , G01N15/1433
Abstract: 本发明提供粒子测定装置、校正方法和测定装置，能使用校正用粒子简单地进行拍摄目标粒子等对象物的测定装置的校正。图像分析部(21)取得以时间间隔Δt得到的多个拍摄图像，(a)在校正模式下，根据所述多个拍摄图像中的校正用粒子的像素单位的光点的位移，确定校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal，(b)在测定模式下，根据所述多个拍摄图像中的目标粒子的光点的像素单位的位移，确定目标粒子的光点的均方位移ΔMS。并且粒径分析部(22)(c)在分析模式下，根据校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal以及校正用粒子的粒径dcal，从目标粒子的光点的均方位移ΔMS导出所述目标粒子的粒径d。
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公开(公告)号：CN110573855B
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN201880025094.4
申请日：2018-03-30
Applicant: 理音株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。
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公开(公告)号：CN112840199A
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN201980065132.3
申请日：2019-09-30
Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所 , 理音株式会社 , 铠侠股份有限公司
Abstract: 本发明提供粒子测定装置、校正方法和测定装置，能使用校正用粒子简单地进行拍摄目标粒子等对象物的测定装置的校正。图像分析部(21)取得以时间间隔Δt得到的多个拍摄图像，(a)在校正模式下，根据所述多个拍摄图像中的校正用粒子的像素单位的光点的位移，确定校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal，(b)在测定模式下，根据所述多个拍摄图像中的目标粒子的光点的像素单位的位移，确定目标粒子的光点的均方位移ΔMS。并且粒径分析部(22)(c)在分析模式下，根据校正用粒子的光点的均方位移ΔMS－cal以及校正用粒子的粒径dcal，从目标粒子的光点的均方位移ΔMS导出所述目标粒子的粒径d。
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公开(公告)号：CN110573855A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201880025094.4
申请日：2018-03-30
Applicant: 理音株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。
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