公开(公告)号：CN110573855B

公开(公告)日：2022-08-26

申请号：CN201880025094.4

申请日：2018-03-30

Applicant: 理音株式会社 ,  国立研究开发法人产业技术综合研究所

Inventor： 近藤郁 ,  田渕拓哉 ,  坂东和奈 ,  加藤晴久 ,  松浦有祐

IPC: G01N15/02 ,  G01N21/05 ,  G01P3/36

Abstract: 本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。

公开(公告)号：CN110573855A

公开(公告)日：2019-12-13

申请号：CN201880025094.4

申请日：2018-03-30

Applicant: 理音株式会社 ,  国立研究开发法人产业技术综合研究所

Inventor： 近藤郁 ,  田渕拓哉 ,  坂东和奈 ,  加藤晴久 ,  松浦有祐

IPC: G01N15/02 ,  G01N21/05 ,  G01P3/36

Abstract: 本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。

公开(公告)号：CN114424044A

公开(公告)日：2022-04-29

申请号：CN202180005328.0

申请日：2021-03-03

Applicant: 理音株式会社

Inventor： 坂东和奈 ,  近藤郁 ,  田渊拓哉 ,  近藤聪太

IPC: G01N15/02

Abstract: 将照射光照射于流路，在向试样的流动方向虚拟延长后的位置，对从通过形成于规定区间内的检测区域的试样中所含的颗粒发出的散射光进行聚光并以规定的帧率进行拍摄。在此基础上，基于多个帧图像来计算出通过布朗运动而产生的颗粒的与流动方向垂直的方向的移动量。进而，为了对散焦位置处的因倍率而产生的图像上的移动量的误差进行校正，使用预先求出的校正值来校正该移动量，确定颗粒的粒径。

公开(公告)号：CN114402188A

公开(公告)日：2022-04-26

申请号：CN202080064718.0

申请日：2020-12-17

Applicant: 理音株式会社

Inventor： 近藤郁 ,  坂东和奈 ,  田渊拓哉 ,  近藤聪太

IPC: G01N15/02 ,  G01N21/05 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供一种颗粒测量装置，扩展器将光源所射出的照射光放大为满足衍射光学元件的要求的形状，使该照射光成为平行光并射入至衍射光学元件。衍射光学元件将射入的照射光整形为其焦点位置处的截面呈细长矩形的平顶光束。在由整形后的照射光形成的检测区域内，能使光的强度分布大致均匀。