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公开(公告)号:CN107017244B
公开(公告)日:2020-02-14
申请号:CN201610664839.4
申请日:2016-08-12
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/02 , H01L23/522 , H01L21/768
Abstract: 本公开的一些实施例提供半导体装置及其制造方法。半导体装置包含设置于基底上的虚设鳍状结构,设置于一部分虚设鳍状结构上的虚设栅极结构,虚设栅极结构嵌入于其中的第一层间介电层,设置于第一层间介电层上的第二层间介电层,以及由导电材料形成且嵌入于第二层间介电层的电阻导线。在平面图中,电阻导线与虚设栅极结构重叠。
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公开(公告)号:CN107017244A
公开(公告)日:2017-08-04
申请号:CN201610664839.4
申请日:2016-08-12
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/02 , H01L23/522 , H01L21/768
Abstract: 本公开提供半导体装置及其制造方法。半导体装置包含设置于基底上的虚设鳍状结构,设置于一部分虚设鳍状结构上的虚设栅极结构,虚设栅极结构嵌入于其中的第一层间介电层,设置于第一层间介电层上的第二层间介电层,以及由导电材料形成且嵌入于第二层间介电层的电阻导线。在平面图中,电阻导线与虚设栅极结构重叠。
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