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公开(公告)号:CN110442893A
公开(公告)日:2019-11-12
申请号:CN201910367120.8
申请日:2019-05-05
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种生成IC器件的网表的方法包括:提取所述IC器件的栅极区的尺寸,所述尺寸包括:栅极区的宽度,所述宽度至少从有源区的第一边缘延伸至所述有源区的第二边缘;以及从所述宽度的第一末端至沿着所述宽度定位的栅极通孔的距离。接收对应于所述栅极区的第一栅极电阻值,基于所述距离和所述宽度确定第二栅极电阻值;以及基于所述第一栅极电阻值和所述第二栅极电阻值更新所述网表。本发明的实施例还提供了集成电路器件布局图生成方法和系统。
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公开(公告)号:CN110298055B
公开(公告)日:2024-12-24
申请号:CN201910221167.3
申请日:2019-03-22
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F30/392 , G06F30/398
Abstract: 本发明实施例涉及一种集成电路布局产生方法和系统,其方法包含接收所述IC装置的布局图,所述IC布局图包含:栅极区,其在有源区上具有宽度;以及栅极通孔,其定位在沿所述宽度的位置处。使用所述位置来将所述宽度划分成多个宽度区段,基于所述多个宽度区段来计算所述栅极区的有效电阻,且使用所述有效电阻来确定所述IC布局图是否遵守设计规范。
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公开(公告)号:CN110442893B
公开(公告)日:2022-10-18
申请号:CN201910367120.8
申请日:2019-05-05
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F30/392
Abstract: 一种生成IC器件的网表的方法包括:提取所述IC器件的栅极区的尺寸,所述尺寸包括:栅极区的宽度,所述宽度至少从有源区的第一边缘延伸至所述有源区的第二边缘;以及从所述宽度的第一末端至沿着所述宽度定位的栅极通孔的距离。接收对应于所述栅极区的第一栅极电阻值,基于所述距离和所述宽度确定第二栅极电阻值;以及基于所述第一栅极电阻值和所述第二栅极电阻值更新所述网表。本发明的实施例还提供了集成电路器件布局图生成方法和系统。
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公开(公告)号:CN110298055A
公开(公告)日:2019-10-01
申请号:CN201910221167.3
申请日:2019-03-22
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明实施例涉及一种集成电路布局产生方法和系统,其方法包含接收所述IC装置的布局图,所述IC布局图包含:栅极区,其在有源区上具有宽度;以及栅极通孔,其定位在沿所述宽度的位置处。使用所述位置来将所述宽度划分成多个宽度区段,基于所述多个宽度区段来计算所述栅极区的有效电阻,且使用所述有效电阻来确定所述IC布局图是否遵守设计规范。
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