集成电路布局产生方法和系统

    公开(公告)号:CN110298055B

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN201910221167.3

    申请日:2019-03-22

    Abstract: 本发明实施例涉及一种集成电路布局产生方法和系统,其方法包含接收所述IC装置的布局图,所述IC布局图包含:栅极区,其在有源区上具有宽度;以及栅极通孔,其定位在沿所述宽度的位置处。使用所述位置来将所述宽度划分成多个宽度区段,基于所述多个宽度区段来计算所述栅极区的有效电阻,且使用所述有效电阻来确定所述IC布局图是否遵守设计规范。

    集成电路布局产生方法和系统

    公开(公告)号:CN110298055A

    公开(公告)日:2019-10-01

    申请号:CN201910221167.3

    申请日:2019-03-22

    Abstract: 本发明实施例涉及一种集成电路布局产生方法和系统,其方法包含接收所述IC装置的布局图,所述IC布局图包含:栅极区,其在有源区上具有宽度;以及栅极通孔,其定位在沿所述宽度的位置处。使用所述位置来将所述宽度划分成多个宽度区段,基于所述多个宽度区段来计算所述栅极区的有效电阻,且使用所述有效电阻来确定所述IC布局图是否遵守设计规范。

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