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公开(公告)号:CN105810681B
公开(公告)日:2019-01-11
申请号:CN201610018400.4
申请日:2016-01-12
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/092 , H01L27/12 , H01L29/423 , H01L29/08
Abstract: 本发明描述了堆叠器件和通过堆叠器件形成的电路。根据一些实施例,半导体柱从衬底垂直延伸。第一源极/漏极区域在半导体柱中。第一栅电极层横向环绕半导体柱并且垂直位于第一源极/漏极区域上方。第一栅极介电层夹置在第一栅电极层和半导体柱之间。第二源极/漏极区域在半导体柱中并且垂直位于第一栅电极层上方。第二源极/漏极区域连接至电源节点。第二栅电极层横向环绕半导体柱并且垂直位于第二源极/漏极区域上方。第二栅极介电层夹置在第二栅电极层和半导体柱之间。第三源极/漏极区域在半导体柱中并且垂直位于第二栅电极层上方。
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公开(公告)号:CN104733453A
公开(公告)日:2015-06-24
申请号:CN201410369169.4
申请日:2014-07-30
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
Inventor: 让-皮埃尔·科林格 , 郭大鵬 , 卡洛斯·H.·迪亚兹
CPC classification number: H01L27/0266 , H01L23/60 , H01L29/7827 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供了一种用于保护电路免受静电放电(ESD)电压影响的系统。输入端子接收输入信号。ESD保护电路从输入端子接收输入信号。ESD保护电路包括一个或多个垂直纳米线场效应晶体管(FET)。一个或多个垂直纳米线FET的每个都包括具有第一导电类型的阱。一个或多个垂直纳米线FET的每个也包括纳米线,该纳米线具有i)位于纳米线的第一端处的源极区和ii)位于与第一端相对的纳米线的第二端处的漏极区。源极区还包括形成在阱中的部分,其中,源极区和漏极区具有第二导电类型。栅极区围绕纳米线的一部分,并且与漏极区分隔开一段距离。
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公开(公告)号:CN104733453B
公开(公告)日:2017-10-27
申请号:CN201410369169.4
申请日:2014-07-30
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
Inventor: 让-皮埃尔·科林格 , 郭大鵬 , 卡洛斯·H.·迪亚兹
CPC classification number: H01L27/0266 , H01L23/60 , H01L29/7827 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供了一种用于保护电路免受静电放电(ESD)电压影响的系统。输入端子接收输入信号。ESD保护电路从输入端子接收输入信号。ESD保护电路包括一个或多个垂直纳米线场效应晶体管(FET)。一个或多个垂直纳米线FET的每个都包括具有第一导电类型的阱。一个或多个垂直纳米线FET的每个也包括纳米线,该纳米线具有i)位于纳米线的第一端处的源极区和ii)位于与第一端相对的纳米线的第二端处的漏极区。源极区还包括形成在阱中的部分,其中,源极区和漏极区具有第二导电类型。栅极区围绕纳米线的一部分,并且与漏极区分隔开一段距离。
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公开(公告)号:CN105810681A
公开(公告)日:2016-07-27
申请号:CN201610018400.4
申请日:2016-01-12
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/092 , H01L27/12 , H01L29/423 , H01L29/08
CPC classification number: H01L21/8221 , H01L21/823425 , H01L21/823487 , H01L21/823885 , H01L23/5226 , H01L23/528 , H01L27/0688 , H01L27/088 , H01L27/092 , H01L29/0847 , H01L29/1037 , H01L29/4238 , H01L29/6653 , H01L29/66666 , H01L29/7827 , H01L27/1203 , H01L29/42356
Abstract: 本发明描述了堆叠器件和通过堆叠器件形成的电路。根据一些实施例,半导体柱从衬底垂直延伸。第一源极/漏极区域在半导体柱中。第一栅电极层横向环绕半导体柱并且垂直位于第一源极/漏极区域上方。第一栅极介电层夹置在第一栅电极层和半导体柱之间。第二源极/漏极区域在半导体柱中并且垂直位于第一栅电极层上方。第二源极/漏极区域连接至电源节点。第二栅电极层横向环绕半导体柱并且垂直位于第二源极/漏极区域上方。第二栅极介电层夹置在第二栅电极层和半导体柱之间。第三源极/漏极区域在半导体柱中并且垂直位于第二栅电极层上方。
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