公开(公告)号：CN113176491A

公开(公告)日：2021-07-27

申请号：CN202110180271.X

申请日：2021-02-08

Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司

Inventor： 庄学理 ,  江典蔚 ,  王家佑 ,  施孟君 ,  王清煌 ,  张智扬 ,  陈家庠 ,  翁稚惠

IPC: G01R31/28 ,  H01L21/66

Abstract: 本发明实施涉及测试设备及其使用方法。根据本发明的一些实施例，一种用于测试设备的盖包含：盖体；多个磁体，其安置于所述盖体上方；及多个调整部件，其中所述每一调整部件安置于所述盖体与一个对应磁体之间。所述盖体与每一磁体之间的垂直距离由一个对应调整部件调整。

公开(公告)号：CN110941417A

公开(公告)日：2020-03-31

申请号：CN201910887657.7

申请日：2019-09-19

Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司

Inventor： 庄学理 ,  张智扬 ,  王清煌 ,  翁稚惠 ,  江典蔚 ,  施孟君 ,  王家佑 ,  陈家庠

IPC: G06F7/58 ,  G11C11/16

Abstract: 在一些实施例中，提供一种用于产生随机位的方法。方法包含通过将随机数产生器(RNG)信号提供到磁阻随机存取存储器(MRAM)单元来产生第一随机位。随机数产生器信号具有约0.5的机率将磁阻随机存取存储器单元的电阻状态从对应于第一数据状态的第一电阻状态切换到对应于第二数据状态的第二电阻状态。随后从磁阻随机存取存储器单元读取第一随机位。