半导体器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113871453A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202111141899.5

    申请日:2021-09-28

    Abstract: 一种半导体器件包括沟道区、第一二维金属质接触件及第二二维金属质接触件、栅极结构以及第一金属接触件及第二金属接触件。沟道区包含二维半导体材料。第一二维金属质接触件设置在沟道区的一侧处且包含二维金属质材料。第二二维金属质接触件设置在沟道区的相对的侧处且包含二维金属质材料。栅极结构在第一二维金属质接触件与第二二维金属质接触件的中间设置在沟道区上。第一金属接触件相对于沟道区设置在第一二维金属质接触件的相对的侧处。第二金属接触件相对于沟道区设置在第二二维金属质接触件的相对的侧处。第一二维金属质接触件及第二二维金属质接触件从侧面接触沟道区以形成侧向半导体‑金属质结。

    半导体结构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112599590A

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN202010801803.2

    申请日:2020-08-11

    Abstract: 半导体结构包含基材、第一鳍片结构、半导体层、栅极结构以及源极/漏极结构。第一鳍片结构属于一介电质材料,且位于基材上方。第一鳍片结构具有沿着一第一方向延伸的一第一侧壁以及一第二侧壁,且具有相接于第一侧壁与第二侧壁之间的一上表面。半导体层属于一二维材料,且沿着第一方向而至少位于第一鳍片结构的第一侧壁以及第二侧壁上方。栅极结构,邻近于半导体层的一第一部位。源极/漏极结构,邻近于半导体层的一第二部位。

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