执行晶片边缘修整工艺的方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113001314A

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202011472741.1

    申请日:2020-12-15

    Abstract: 在一些实施例中,本公开涉及一种执行晶片边缘修整工艺的方法,所述方法包含使用耦合到隐形激光设备的红外相机在晶片上方对准隐形激光设备。使用隐形激光设备在晶片内形成隐形损坏区,所述隐形损坏区在晶片周围连续连接且将晶片的内部区与外部区分离。隐形损坏区也布置在距晶片的边缘的第一距离处且从晶片的顶部表面下方的第一深度延伸到第二深度。另外,所述方法包含在晶片中形成凹槽以将晶片的外部区与内部区分离。使用刀片移除晶片的外部区,且使用研磨设备移除晶片的内部区的顶部部分。

    用于弯曲晶圆的传送模块

    公开(公告)号:CN104690641A

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201410053282.1

    申请日:2014-02-17

    Abstract: 一种晶圆研磨系统,包括在一个端部具有吸持板的机械臂和在机械臂的范围内的工作台。工作台的上表面具有用于吸持和保持晶圆的真空表面。连接到机械臂的推动器在吸持板的外围延伸。推动器使晶圆在工作台的上表面上变平,从而允许工作台通过吸持力来保持晶圆,否则所述晶圆太弯曲以致于不能以这种方式来保持。此外,工作台可以具有相对于晶圆较小的真空区域,真空区域是增加可以容许的晶圆弯曲的幅度的另一种方式。研磨系统可以使用减小的真空区域概念以允许定位工作台保持弯曲的晶圆并且可以使用推动器概念允许卡盘工作台保持弯曲的晶圆。本发明还提供了用于弯曲晶圆的传送模块。

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