公开(公告)号：CN119886040A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510373332.2

申请日：2025-03-27

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 严大鹏 ,  王志勇 ,  雷鸣飞 ,  冒邓捷 ,  张鲁萍 ,  王子轩 ,  郭静静 ,  蔡志匡

IPC: G06F30/396 ,  G06F30/398 ,  G06F117/10

Abstract: 本发明公开了一种基于分层区域划分和缓冲器插入的时钟树综合优化方法及系统，该方法通过分层插入缓冲器的方式进行时钟树综合优化，首先将所有寄存器作为基础单元对电路进行矩形区域切割并在几何中心点插入底层缓冲器，然后将上一层缓冲器作为基础单元，利用菱形网格划分方法对电路区域进行划分并在几何中心点插入中层缓冲器，最后按照H树结构插入顶层缓冲器；在插入缓冲器之后通过动态调整缓冲器的位置，实现全局时钟树的延迟最小化和偏斜控制，同时有效减少缓冲器数量，降低功耗，提升设计效率。

公开(公告)号：CN119780684A

公开(公告)日：2025-04-08

申请号：CN202510289283.4

申请日：2025-03-12

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  雷鸣飞 ,  嵇苏宁 ,  杨大智 ,  张鲁萍 ,  严大鹏 ,  王子轩 ,  连晓娟 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/3183 ,  G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种基于专用链诊断向量的扫描链故障定位方法及系统，该方法首先通过链测试确定待测的功能电路扫描链中存在的故障类型，然后针对每一位触发器生成对应的专用链诊断向量，其中，该触发器及其下游触发器对应位置，根据所述故障类型设置为故障值；调整功能电路输入值，使得该触发器的上一位触发器捕获到故障值的相反值；最后利用所述专用链诊断向量进行扫描链故障测试，得到发生故障的触发器位置。本发明通过生成针对每一位扫描触发器的专用链诊断向量，并结合电路逻辑分析，能够更加准确地定位扫描链中的故障位置。

公开(公告)号：CN117872103B

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202410269404.4

申请日：2024-03-11

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  刘小婷 ,  张鲁萍 ,  王子轩 ,  徐彬彬 ,  孙海燕 ,  刘璐 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/3185 ,  G11C29/56 ,  G11C29/54

Abstract: 本发明公开了一种通用测试芯粒，用于对若干个待测芯粒进行测试，测试芯粒包括芯粒测试控制电路模块、测试数据分发电路模块、存储器测试配置电路模块和芯粒测试接口电路模块；芯粒测试控制电路模块用于为待测芯粒提供测试数据、配置测试模式；测试数据分发电路模块用于从测试数据总线分发每个所述待测芯粒所需的测试数据；存储器测试配置电路模块用于为待测芯粒的存储器提供测试电路，自动生成测试矢量；芯粒测试接口电路模块用于通过芯粒测试接口为待测芯粒在上下左右任意方向传输测试数据；本发明将芯粒系统所需的共享的测试资源嵌入其中，满足芯粒系统测试即插即用的策略，为芯粒系统提供了全面、灵活、高效的测试方案。

公开(公告)号：CN117872103A

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202410269404.4

申请日：2024-03-11

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  刘小婷 ,  张鲁萍 ,  王子轩 ,  徐彬彬 ,  孙海燕 ,  刘璐 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/3185 ,  G11C29/56 ,  G11C29/54

Abstract: 本发明公开了一种通用测试芯粒，用于对若干个待测芯粒进行测试，测试芯粒包括芯粒测试控制电路模块、测试数据分发电路模块、存储器测试配置电路模块和芯粒测试接口电路模块；芯粒测试控制电路模块用于为待测芯粒提供测试数据、配置测试模式；测试数据分发电路模块用于从测试数据总线分发每个所述待测芯粒所需的测试数据；存储器测试配置电路模块用于为待测芯粒的存储器提供测试电路，自动生成测试矢量；芯粒测试接口电路模块用于通过芯粒测试接口为待测芯粒在上下左右任意方向传输测试数据；本发明将芯粒系统所需的共享的测试资源嵌入其中，满足芯粒系统测试即插即用的策略，为芯粒系统提供了全面、灵活、高效的测试方案。