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公开(公告)号：CN111736989B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202010506445.2
申请日：2020-06-05
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F9/50
Abstract: 本发明公开一种多模式分布式集群GPU指标检测方法及系统，包括GPU嗅探器读取工作节点环境变量中的模式值和计时器频率，读取工作节点的GPU数量和GPU信息参数，计算出自身不同工作模式下工作节点的GPU性能得分，进行信息上报；存储器比对上报信息和数据平面的数据库，使数据库对应数据内部的各个字段更新为上报信息内部的各个字段；校验器等待接收并校验上报信息。本发明通过工作节点设置GPU信息列表缓存和数据平面设置字段对比来实现GPU信息更新从而降低信息上报频率、减少信息传输成本；通过多模式评分策略凸显GPU资源的多样性，以适配更多复杂场景的GPU计算需求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110648715A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201910953586.6
申请日：2019-10-09
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 一种低电压SRAM写半选择故障的测试方法，设计出写半选择故障测试元素：{⇕W0⇕W1column0⇕R1column0⇕R0column0'⇕W0⇕W1column1⇕R1column1⇕R0column0'}，其中{W1column0}和{W1column1}利用自定义行读写方式，即一种对指定范围的行地址进行有序的读写操作方式，将数据背景写入列地址相同、行地址顺序增加的存储单元，激活敏化出故障，随后进行读操作，将读出数据与期望数据比较，不一致则判断检测出故障。该方法能够弥补传统算法无法覆盖写半选择故障的问题，实现指定故障模型的覆盖，且有效地降低了测试成本。
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公开(公告)号：CN112071355A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202011258715.9
申请日：2020-11-12
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，通过SRAM测试控制模块、故障预分析模块和算法生成模块实现。SRAM测试控制模块控制待测SRAM存储阵列的工作电压、温度以及工艺等，使得SRAM在不同的工作环境下暴露出更多的故障行为，减少故障的逃逸率；故障预分析模块用来提前对存储阵列中可能发生的故障进行预判断，判断结果输入算法生成模块，算法生成模块重构出当前环境下存储阵列的最优算法，并生成新的BIST电路，对存储阵列进行高效快速的故障测试。该技术突破传统算法的局限性，可以提高故障覆盖率并降低测试成本。
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公开(公告)号：CN111736989A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010506445.2
申请日：2020-06-05
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F9/50
Abstract: 本发明公开一种多模式分布式集群GPU指标检测方法及系统，包括GPU嗅探器读取工作节点环境变量中的模式值和计时器频率，读取工作节点的GPU数量和GPU信息参数，计算出自身不同工作模式下工作节点的GPU性能得分，进行信息上报；存储器比对上报信息和数据平面的数据库，使数据库对应数据内部的各个字段更新为上报信息内部的各个字段；校验器等待接收并校验上报信息。本发明通过工作节点设置GPU信息列表缓存和数据平面设置字段对比来实现GPU信息更新从而降低信息上报频率、减少信息传输成本；通过多模式评分策略凸显GPU资源的多样性，以适配更多复杂场景的GPU计算需求。
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公开(公告)号：CN110648715B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201910953586.6
申请日：2019-10-09
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 一种低电压SRAM写半选择故障的测试方法，设计出写半选择故障测试元素：{⇕W0⇕W1column0⇕R1column0⇕R0column0'⇕W0⇕W1column1⇕R1column1⇕R0column0'}，其中{W1column0}和{W1column1}利用自定义行读写方式，即一种对指定范围的行地址进行有序的读写操作方式，将数据背景写入列地址相同、行地址顺序增加的存储单元，激活敏化出故障，随后进行读操作，将读出数据与期望数据比较，不一致则判断检测出故障。该方法能够弥补传统算法无法覆盖写半选择故障的问题，实现指定故障模型的覆盖，且有效地降低了测试成本。
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公开(公告)号：CN111243657A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010138469.7
申请日：2020-03-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供一种有效的存储器电路随机故障注入方法，所述方法步骤如下：步骤一：利用Perl语言提取出所有可能出现故障的节点，修改所有故障节点名称，生成一个新的文件；步骤二：随机选取节点文件中的一个或多个故障节点，并在节点处插入阻值随机电阻；步骤三：插入电阻后生成一个新的已完成随机故障注入的存储器网表文件。通过上述方法可以生成出故障注入后的网表，实现随机故障注入。本发明提供的随机故障注入方法，其特点在于故障注入电路节点位置随机，故障注入数量随机，并且注入电阻阻值随机，是一种切实可行的方法，可以有效验证测试算法的故障覆盖率。
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