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公开(公告)号：CN106856003A
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201611267528.0
申请日：2016-12-31
Applicant: 南京理工大学
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T5/006 , G06T2207/30164
Abstract: 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法，该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系，以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系；根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系；再根据所获得的上述三种关系联立推导，建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系，结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制，实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况，提高了后期图像处理检测精度。
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公开(公告)号：CN104834895A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510158571.2
申请日：2015-04-03
Applicant: 南京理工大学
IPC: G06K9/00
CPC classification number: G06K9/0004
Abstract: 本发明公开了一种紫外与可见光双波段融合便携式指纹探测器，包括紫外灯、紫外探测器、可见光探测器、FPGA降噪板、DSP融合板、存储显示模块、显示器、SD卡和电源模块；紫外灯设置在紫外探测器上方，紫外探测器与FPGA降噪板相连，FPGA降噪板对紫外图像实时降噪，FPGA降噪板与DSP融合板相连；可见光探测器与紫外探测器水平设置，且可见光探测器的输出端与DSP融合板相连，DSP融合板将指纹目标红色显示在融合图像中。本发明运用光学方法，无需使用任何试剂，节约成本，不破坏现场，可重复多次探测；在探测指纹的同时，提供可视化的背景信息，能够精确有效地标定出指纹所在的位置。
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公开(公告)号：CN107132272B
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN201710425846.3
申请日：2017-06-08
Applicant: 南京理工大学 , 南京晨光集团有限责任公司
IPC: G01N27/84
Abstract: 本发明公开了一种多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统，该系统包括检测床身、工件对中夹持装置、工件运动机构、磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置、紫外光源、自动检测控制单元、图像采集设备及其多自由度运动机构、图像处理单元；工件对中夹持装置用于固定工件并保持其轴线与采集设备光心垂直方向一致；自动检测控制单元用于控制不同类型工件检测方式；磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置用于形成表面缺陷磁痕；工件旋转运动机构、紫外光源、图像采集设备相互配合以获取工件不同位置和不同表面图像，并送入图像处理单元获取缺陷信息。本发明可解决不同结构、不同几何尺寸工件的磁粉成像检测问题，检测更安全快速、精确直观。
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公开(公告)号：CN102507148B
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201110314085.7
申请日：2011-10-17
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种多象限探测器检测系统，由激光发射系统发射出的激光信号经过发射光学系统的整形照射在多象限探测器上和视频处理系统上，由视频处理系统检测激光光斑在多象限探测器上的位置，监视系统反馈给观测者其在探测器上的位置，由多维调节架调整多象限探测器，使其照射到合适的位置，用精密角度调节机构调整光斑照入射到多象限探测器上的角度。旋转机构带动多象限探测器转动，通过信号传输系统将多象限探测器信号由信号接收系统输入计算机。此测试系统能够模拟多象限探测器的实际工作状况，即可实现多象限探测器的动态测量与不同角度的测量，能够检测出多象限探测器中不符合要求的产品，为以多象限探测器所组成的系统的准确性提供了保障。
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公开(公告)号：CN101858779A
公开(公告)日：2010-10-13
申请号：CN200910029360.3
申请日：2009-04-10
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明的一种远场激光功率分布测量器，包括靶子系统和瞄准系统，靶子系统包括低反射靶板、探测器阵列、靶板中心指示器、瞄准望远镜、光学装置、数据采集系统、计算机处理系统；光学装置均匀排列在低反射靶板上，构成探测器阵列，靶板中心指示器设置在低反射靶板中心位置，瞄准望远镜设置在低反射靶板的正上方；瞄准系统包括长焦镜头的CCD成像装置，可拆卸的波长为532nm的滤光片，监视器，多维平移台；长焦镜头的CCD成像装置设置在多维平移台上方，可拆卸的波长为532nm的滤光片设置在长焦镜头的CCD成像装置前方。本发明的远场激光功率分布测量器可靠性高、测量精确、功能齐全、操作简便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118967425A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410922408.8
申请日：2024-07-10
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于CPU与GPU架构的软件化雷达信号处理系统与方法，系统包括数据传输模块、信号处理模块和终端显控模块，数据传输模块用于从阵列雷达接收回波数据，信号处理模块用于接收雷达原始回波数据后进行数据预处理、实时雷达信号处理的工作，并同时改进传统OS‑CFAR算法。终端显控模块接收上传的目标点迹报文并进行正确解析后将其实时显示；整个处理系统基于CPU和GPU异构架构实现。本发明利用CPU完成资源管理、逻辑控制和数据处理部分，GPU完成雷达信号处理的高性能并行计算，处理速度快、定位精度高，能够实现雷达探测的实时处理和精确定位。
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公开(公告)号：CN107132272A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710425846.3
申请日：2017-06-08
Applicant: 南京理工大学 , 南京晨光集团有限责任公司
IPC: G01N27/84
CPC classification number: G01N27/84
Abstract: 本发明公开了一种多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统，该系统包括检测床身、工件对中夹持装置、工件运动机构、磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置、紫外光源、自动检测控制单元、图像采集设备及其多自由度运动机构、图像处理单元；工件对中夹持装置用于固定工件并保持其轴线与采集设备光心垂直方向一致；自动检测控制单元用于控制不同类型工件检测方式；磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置用于形成表面缺陷磁痕；工件旋转运动机构、紫外光源、图像采集设备相互配合以获取工件不同位置和不同表面图像，并送入图像处理单元获取缺陷信息。本发明可解决不同结构、不同几何尺寸工件的磁粉成像检测问题，检测更安全快速、精确直观。
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公开(公告)号：CN103177433A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310121884.1
申请日：2013-04-09
Applicant: 南京理工大学
IPC: G06T5/50
Abstract: 本发明公开了一种红外与微光图像融合方法。该方法包括以下步骤：（1）利用红外摄像头采集原红外图像，利用微光摄像头采集原微光图像；（2）对采集到的原红外图像和原微光图像分别进行分块，将原红外图像和原微光图像分割成N个相互对应的原图像子块；（3）在并行处理系统中，使用图像融合算法，将原红外图像和原微光图像中各个相互对应的原图像子块同时进行图像融合，得到融合后图像子块；（4）将融合后图像子块组合生成最终的融合图像。本发明中所得到的融合图像不仅具有高的图像质量，还有较高的融合速度，从而在夜视侦察、安防监控等军事和民事领域有着广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN101858779B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200910029360.3
申请日：2009-04-10
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明的一种远场激光功率分布测量器，包括靶子系统和瞄准系统，靶子系统包括低反射靶板、探测器阵列、靶板中心指示器、瞄准望远镜、光学装置、数据采集系统、计算机处理系统；光学装置均匀排列在低反射靶板上，构成探测器阵列，靶板中心指示器设置在低反射靶板中心位置，瞄准望远镜设置在低反射靶板的正上方；瞄准系统包括长焦镜头的CCD成像装置，可拆卸的波长为532nm的滤光片，监视器，多维平移台；长焦镜头的CCD成像装置设置在多维平移台上方，可拆卸的波长为532nm的滤光片设置在长焦镜头的CCD成像装置前方。本发明的远场激光功率分布测量器可靠性高、测量精确、功能齐全、操作简便。
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公开(公告)号：CN106856003B
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201611267528.0
申请日：2016-12-31
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法，该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系，以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系；根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系；再根据所获得的上述三种关系联立推导，建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系，结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制，实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况，提高了后期图像处理检测精度。
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