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公开(公告)号:CN106856003A
公开(公告)日:2017-06-16
申请号:CN201611267528.0
申请日:2016-12-31
Applicant: 南京理工大学
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T5/006 , G06T2207/30164
Abstract: 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法,该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系,以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系;根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系;再根据所获得的上述三种关系联立推导,建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系,结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制,实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况,提高了后期图像处理检测精度。
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公开(公告)号:CN107219298B
公开(公告)日:2020-06-19
申请号:CN201710431071.0
申请日:2017-06-08
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N27/84
Abstract: 本发明公开了一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法,对中装置包括第一平面电极、第二平面电极、第一磁性底座、第二磁性底座、第一升降平台、第二升降平台、旋转运动机构、第一延长垫块、第二延长垫块、垂直激光投线仪和水平激光投线仪;激光投线仪用于生成水平和垂直方向的投影线;磁性底座用于辅助放置待检工件;升降平台用于调整工件垂直高度;专用延长垫块用于固定待检工件两端,并提供能与激光线对应的实体刻度线。本发明可应用于荧光磁粉缺陷成像检测系统中,解决传统荧光磁粉检测设备因无法对工件对中夹持造成图像偏移、降低测量精度的问题;本发明适用于不同类型的工件,具有简明直观、实用快速、操作方便的特点。
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公开(公告)号:CN107132272A
公开(公告)日:2017-09-05
申请号:CN201710425846.3
申请日:2017-06-08
Applicant: 南京理工大学 , 南京晨光集团有限责任公司
IPC: G01N27/84
CPC classification number: G01N27/84
Abstract: 本发明公开了一种多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统,该系统包括检测床身、工件对中夹持装置、工件运动机构、磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置、紫外光源、自动检测控制单元、图像采集设备及其多自由度运动机构、图像处理单元;工件对中夹持装置用于固定工件并保持其轴线与采集设备光心垂直方向一致;自动检测控制单元用于控制不同类型工件检测方式;磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置用于形成表面缺陷磁痕;工件旋转运动机构、紫外光源、图像采集设备相互配合以获取工件不同位置和不同表面图像,并送入图像处理单元获取缺陷信息。本发明可解决不同结构、不同几何尺寸工件的磁粉成像检测问题,检测更安全快速、精确直观。
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公开(公告)号:CN107132272B
公开(公告)日:2021-05-04
申请号:CN201710425846.3
申请日:2017-06-08
Applicant: 南京理工大学 , 南京晨光集团有限责任公司
IPC: G01N27/84
Abstract: 本发明公开了一种多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统,该系统包括检测床身、工件对中夹持装置、工件运动机构、磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置、紫外光源、自动检测控制单元、图像采集设备及其多自由度运动机构、图像处理单元;工件对中夹持装置用于固定工件并保持其轴线与采集设备光心垂直方向一致;自动检测控制单元用于控制不同类型工件检测方式;磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置用于形成表面缺陷磁痕;工件旋转运动机构、紫外光源、图像采集设备相互配合以获取工件不同位置和不同表面图像,并送入图像处理单元获取缺陷信息。本发明可解决不同结构、不同几何尺寸工件的磁粉成像检测问题,检测更安全快速、精确直观。
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公开(公告)号:CN106856003B
公开(公告)日:2019-06-25
申请号:CN201611267528.0
申请日:2016-12-31
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法,该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系,以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系;根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系;再根据所获得的上述三种关系联立推导,建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系,结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制,实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况,提高了后期图像处理检测精度。
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公开(公告)号:CN107219298A
公开(公告)日:2017-09-29
申请号:CN201710431071.0
申请日:2017-06-08
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N27/84
Abstract: 本发明公开了一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法,对中装置包括第一平面电极、第二平面电极、第一磁性底座、第二磁性底座、第一升降平台、第二升降平台、旋转运动机构、第一延长垫块、第二延长垫块、垂直激光投线仪和水平激光投线仪;激光投线仪用于生成水平和垂直方向的投影线;磁性底座用于辅助放置待检工件;升降平台用于调整工件垂直高度;专用延长垫块用于固定待检工件两端,并提供能与激光线对应的实体刻度线。本发明可应用于荧光磁粉缺陷成像检测系统中,解决传统荧光磁粉检测设备因无法对工件对中夹持造成图像偏移、降低测量精度的问题;本发明适用于不同类型的工件,具有简明直观、实用快速、操作方便的特点。
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