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公开(公告)号:CN101962758A
公开(公告)日:2011-02-02
申请号:CN201010276921.2
申请日:2010-09-09
Applicant: 南京大学
IPC: C23C16/455 , C23C16/02 , C23C16/06
Abstract: 本发明公开了一种在锗衬底上低温原子层沉积Hf基栅介质薄膜的方法,首先对锗衬底进行清洗、钝化;将钝化好的衬底放入ALD反应室中,温度为140-170℃,以三甲基铝Al(CH3)3和硝酸铪Hf(NO3)4为前躯体,先通入金属源TMA脉冲,接着通入清洗脉冲;再通入金属源Hf(NO3)4脉冲,最后再通入清洗脉冲,即为一个原子层沉积循环周期;根据欲沉积的Hf基栅介质薄膜厚度,重复循环周期,即得到在锗衬底上低温原子层沉积Hf基栅介质薄膜。本发明通过在低温下沉积栅介质氧化物,有效地减少了表面的锗氧化物,防止了Ge的扩散和GeOx的生成,明显地改进了电学性能。
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公开(公告)号:CN101962758B
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN201010276921.2
申请日:2010-09-09
Applicant: 南京大学
IPC: C23C16/455 , C23C16/02 , C23C16/06
Abstract: 本发明公开了一种在锗衬底上低温原子层沉积Hf基栅介质薄膜的方法,首先对锗衬底进行清洗、钝化;将钝化好的衬底放入ALD反应室中,温度为140-170℃,以三甲基铝Al(CH3)3和硝酸铪Hf(NO3)4为前躯体,先通入金属源TMA脉冲,接着通入清洗脉冲;再通入金属源Hf(NO3)4脉冲,最后再通入清洗脉冲,即为一个原子层沉积循环周期;根据欲沉积的Hf基栅介质薄膜厚度,重复循环周期,即得到在锗衬底上低温原子层沉积Hf基栅介质薄膜。本发明通过在低温下沉积栅介质氧化物,有效地减少了表面的锗氧化物,防止了Ge的扩散和GeOx的生成,明显地改进了电学性能。
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公开(公告)号:CN102583533A
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN201110009704.1
申请日:2011-01-18
Applicant: 南京大学
IPC: C01G27/00
Abstract: 本发明公开了一种无水铪锆复合硝酸盐的合成方法及其在ALD方法沉积高介电复合氧化物薄膜中的应用,该合成方法首先是将发烟硝酸和五氧化二磷反应,产生的氮氧化物气体在低温下成为固态五氧化二氮;使固态五氧化二氮逐渐液化,伴随四氧化二氮气体产生;让四氧化二氮和混合金属氯化物充分反应,最后获得白色粉末状的无水铪锆复合硝酸盐初产物;初产物通过升华提纯装置得到白色晶状无水铪锆复合硝酸盐。本发明成功制备了具有良好挥发性且不含碳的无水铪锆复合硝酸盐,并以此单源作为ALD双金属前体,用ALD方法成功沉积了铪锆复合氧化物薄膜,获得了较好的性能。
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