具有单栅双沟道结构的薄膜晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN102184968B

    公开(公告)日:2013-07-03

    申请号:CN201110110050.1

    申请日:2011-04-29

    Abstract: 本发明公开了具有单栅双沟道结构的薄膜晶体管及其制造方法,在基板上形成第一源、漏极,然后淀积第一有源层,有源层边缘与第一源、漏极边缘重叠。继而在第一有源层上依次形成第一绝缘层、栅极、第二绝缘层。第二有源层以对应第一有源层的方式形成于第二绝缘层上,第二源、漏极以对应第一源、漏极的方式形成于第二有源层之上,从而形成单栅双沟道结构的薄膜晶体管。该结构薄膜晶体管优点:可作为双向开关或三态器件;可用于对两个电路行为一致的电路分支进行控制;具有高开态电流;可作为反相器。

    具有单栅双沟道结构的薄膜晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN102184968A

    公开(公告)日:2011-09-14

    申请号:CN201110110050.1

    申请日:2011-04-29

    Abstract: 本发明公开了具有单栅双沟道结构的薄膜晶体管及其制造方法,在基板上形成第一源、漏极,然后淀积第一有源层,有源层边缘与第一源、漏极边缘重叠。继而在第一有源层上依次形成第一绝缘层、栅极、第二绝缘层。第二有源层以对应第一有源层的方式形成于第二绝缘层上,第二源、漏极以对应第一源、漏极的方式形成于第二有源层之上,从而形成单栅双沟道结构的薄膜晶体管。该结构薄膜晶体管优点:可作为双向开关或三态器件;可用于对两个电路行为一致的电路分支进行控制;具有高开态电流;可作为反相器。

Patent Agency Ranking