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公开(公告)号:CN107808029A
公开(公告)日:2018-03-16
申请号:CN201710841855.0
申请日:2017-09-18
Applicant: 华南理工大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5036
Abstract: 本发明属于LED的技术领域,公开了一种高效垂直结构LED芯片n电极图案的分析方法。所述方法为:(1)采用Tracepro软件依次构建垂直结构LED芯片模型衬底、p电极层、外延层,绘制n电极图案,构建接触靶面,设置材料参数和光源,分析LED芯片模型的出光效率,收集记录数据,优化图案参数;(2)按照上述步骤构建多个不同电极图案的垂直结构LED芯片模型,对比分析各模型的光线数据,得到外量子效率最优的电极图案;(3)在垂直结构LED芯片表面形成n电极图案;(4)性能测试,与模拟的结果对比,得出结论。本发明的方法高效,在较短时间内就能得出性能优异的LED芯片对应的n电极图案,节约了时间、降低了成本。